本發(fā)明提供了一種運(yùn)行壽命建模方法及運(yùn)行壽命預(yù)測(cè)方法，運(yùn)行壽命建模方法包括以下步驟：獲取t個(gè)待測(cè)試功率模塊，并對(duì)每一待測(cè)試功率模塊通電使得待測(cè)試功率模塊于同一測(cè)試電流下形成具有期望結(jié)溫差值的結(jié)溫波動(dòng)；持續(xù)對(duì)每一待測(cè)試功率模塊通電直至每一待測(cè)試功率模塊損壞，記錄每一待測(cè)試功率模塊自測(cè)試起至損壞的通電次數(shù)，并以通電次數(shù)為X軸，累計(jì)失效率為Y軸建立韋布爾概率分布圖；選取韋布爾概率分布圖中累計(jì)失效率為m％的測(cè)試點(diǎn)，并提取測(cè)試點(diǎn)的通電次數(shù)為壽命值；將壽命值和結(jié)溫差值代入壽命模型，以擬合出一壽命模型曲線。采用上述技術(shù)方案后，可適用于各類封裝的功率模塊并適用于各種應(yīng)用場(chǎng)景，且所建立的模型具有更強(qiáng)的針對(duì)性。