本發(fā)明屬于半導(dǎo)體器件測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域,公開一種具有保護(hù)功能的半導(dǎo)體器件測(cè)試裝置及方法,半導(dǎo)體器件測(cè)試裝置包括:測(cè)試回路單元,電性連接于被測(cè)器件單元形成保護(hù)支路;采集保護(hù)單元,采集所述被測(cè)器件單元的至少一電性能參數(shù)信號(hào),所述采集保護(hù)單元根據(jù)所述電性能參數(shù)信號(hào)判斷所述被測(cè)器件單元是否失效,當(dāng)所述被測(cè)器件單元失效時(shí),所述采集保護(hù)單元控制所述測(cè)試回路單元使得電流從所述被測(cè)器件單元換流到所述保護(hù)支路。
聲明:
“具有保護(hù)功能的半導(dǎo)體器件測(cè)試裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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