本發(fā)明提供一種測試方法,用于測試搭載動態(tài)隨機(jī)存取存儲器的系統(tǒng),上述方法包括在動態(tài)隨機(jī)存取存儲器操作于測試模式時,每隔一既定間隔時間,將動態(tài)隨機(jī)存取存儲器的不同的多個輸出接腳其中之一的輸出信號,或動態(tài)隨機(jī)存取存儲器的不同的多個輸入接腳其中之一的輸入信號,加入一變異量;將上述輸出接腳的輸出信號或上述輸入接腳的輸入信號,被加入上述變異量的時間以及上述變異量,記錄至一測試數(shù)據(jù);以及當(dāng)上述系統(tǒng)失效時,依據(jù)上述測試數(shù)據(jù),找出上述系統(tǒng)失效時所對應(yīng)的輸入接腳或輸出接腳,以及變異量。
聲明:
“動態(tài)隨機(jī)存取存儲器以及搭載其系統(tǒng)的測試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)