本發(fā)明公開了一種可實現(xiàn)自動重復浪涌的浪涌測試方法,包括以下內(nèi)容:將需要被測試的功率半導體器件放置在測試臺上,使被測器件和浪涌測試平臺的浪涌電流輸出端安全可靠連接,然后設(shè)置浪涌周期數(shù)目、兩次浪涌測試的間隔時間以及浪涌電流的幅值和周期。在浪涌測試期間,測量被測器件的源漏電壓和浪涌電流,在浪涌測試前和浪涌測試后測量各個電極間的電阻、轉(zhuǎn)移特性曲線等電學參數(shù)。遭受浪涌電流沖擊的被測器件的電學特性通常會發(fā)生變化,根據(jù)所測量的電學參數(shù)的變化來判斷器件是否失效以及器件性能的退化程度。本發(fā)明解決了傳統(tǒng)的以LC振蕩原理為基礎(chǔ)的浪涌測試平臺僅能進行單次浪涌測試的問題,通過選擇合適的開關(guān)器件以及設(shè)計合理的浪涌電流發(fā)生電路得到了能夠?qū)崿F(xiàn)自動重復浪涌的測試平臺。
聲明:
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