本發(fā)明基于變異生成測(cè)試案例的情況,提出了一種不完全反饋模糊測(cè)試框架,該測(cè)試框架在CERT基本模糊測(cè)試框架的基礎(chǔ)上引入隱式狄利克雷分布LDA。本發(fā)明提出的不完全反饋模糊測(cè)試框架,解決了模糊測(cè)試時(shí),當(dāng)目標(biāo)系統(tǒng)的詳細(xì)故障信息不能獲取,而只能通過(guò)外部觀測(cè)器獲取部分信息時(shí),現(xiàn)行方法失效的問(wèn)題。與現(xiàn)行方法相比,本發(fā)明的測(cè)試框架可最大程度上發(fā)現(xiàn)目標(biāo)系統(tǒng)應(yīng)用的特定錯(cuò)誤。本測(cè)試框架既不對(duì)種子的預(yù)選做任何前提假設(shè),也不對(duì)測(cè)試案例的生產(chǎn)方式做任何限制。因此,本框架可與多種相關(guān)方法接合。另外,對(duì)測(cè)試環(huán)境和儀器也沒(méi)有任何特殊要求。
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“不完全反饋模糊測(cè)試框架” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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