本實(shí)用新型提供了一種光電器件測(cè)試夾具,包括底座、測(cè)試部、支持部和夾持部,所述測(cè)試部的底部固定設(shè)有底座,所述測(cè)試部的后側(cè)面固定設(shè)有支持部,所述測(cè)試部的前側(cè)面活動(dòng)設(shè)有夾持部;所述夾持部上開設(shè)有通孔,所述測(cè)試部上和支持部上正對(duì)通孔處設(shè)有一一對(duì)應(yīng)的限位孔,所述限位孔內(nèi)穿設(shè)有彈簧頂針;所述彈簧頂針頂端伸出所述測(cè)試部,所述彈簧頂針末端與所述支持部固定,所述彈簧頂針末端通過引線與外部測(cè)試系統(tǒng)相連接。本實(shí)用新型所述的一種光電器件測(cè)試夾具,避免傳統(tǒng)夾具對(duì)光電器件表面造成破壞,導(dǎo)致器件失效,同時(shí)優(yōu)化光電器件發(fā)光強(qiáng)度的測(cè)試步驟,減少人為操作,大幅度提升測(cè)試效率。
聲明:
“光電器件測(cè)試夾具” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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