本發(fā)明公開了一種基于深度學(xué)習(xí)的設(shè)備剩余壽命預(yù)測模型構(gòu)建方法。該方法基于Transformer的多頭注意力機(jī)制的深度學(xué)習(xí)模型,通過深度學(xué)習(xí)模型挖掘多維監(jiān)測數(shù)據(jù)與產(chǎn)品性能指標(biāo)之間的耦合關(guān)系,并通過Transformer捕捉時序變化過程中的性能變化信息,將試驗樣本全壽命監(jiān)測數(shù)據(jù),通過位置編碼,輸入Transformer模型進(jìn)行再訓(xùn)練和預(yù)測,通過n臺樣本可靠性增長試驗數(shù)據(jù)以及Wiener過程模型,得到Wiener過程的未知參數(shù)μ和σ的似然函數(shù),得到設(shè)備失效概率隨時間變化的分布密度函數(shù),通過積分求解設(shè)備從健康到故障的預(yù)測時間,最后通過貝葉斯公式與后驗概率求解設(shè)備基于可靠性與性能一體化的剩余壽命預(yù)測結(jié)果。
聲明:
“基于深度學(xué)習(xí)的設(shè)備剩余壽命預(yù)測模型構(gòu)建方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)