本發(fā)明公開了一種磁盤數(shù)據(jù)保持能力測試方法、系統(tǒng)、裝置及計(jì)算機(jī)可讀存儲介質(zhì)，對第一預(yù)設(shè)溫度范圍內(nèi)的第一測試樣本進(jìn)行不間斷測試，是其P/E達(dá)到100％，再對該第一測試樣本在第二預(yù)設(shè)溫度范圍內(nèi)進(jìn)行全盤校驗(yàn)寫操作得到第一待校驗(yàn)磁盤，通過對常溫下放至第一預(yù)設(shè)時間的第一待校驗(yàn)磁盤進(jìn)行寫校驗(yàn)來確定發(fā)生數(shù)據(jù)丟失的第一失效磁盤數(shù)，并以此判斷第一測試樣本對應(yīng)的所有待測磁盤的數(shù)據(jù)保存能力是否合格?？梢姡诒痉桨钢?，對測試樣本進(jìn)行測試之前需要在不同溫度進(jìn)行不同的測試操作，從而使測試樣本更接近真實(shí)的數(shù)據(jù)保存期范圍內(nèi)最大消耗狀態(tài)的磁盤，從而可以對磁盤進(jìn)行數(shù)據(jù)保持能力的測試，且測試結(jié)果也更加準(zhǔn)確。