本發(fā)明屬于密封圈壽命測試技術(shù)領(lǐng)域,并具體公開了一種密封圈的壽命測試裝置及方法;該種壽命測試裝置包括模擬單元、加壓單元、連接管路以及控制單元;管路模擬單元設(shè)置有至少一個,每個管路模擬單元均包括壓力腔體和連接于壓力腔體的多個測試管路;加壓單元用于施加交變的壓力;連接管路連接加壓單元,并與所有壓力腔體一一相連;連接管路、所有壓力腔體和所有測試管路內(nèi)部連通并充滿壓力介質(zhì);測試時,密封圈安裝在測試管路中,壓力介質(zhì)感受加壓單元施加的交變壓力,并將壓力傳遞給密封圈;通過采集密封圈工作處壓力介質(zhì)的壓力,判斷對應(yīng)的密封圈是否失效。
聲明:
“密封圈的壽命測試裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)