本申請公開了一種量產(chǎn)測試方法、系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì),以實(shí)現(xiàn)在量產(chǎn)測試時(shí)做到測試數(shù)據(jù)質(zhì)量高、良率損失低且測試時(shí)間短三者兼顧。該方法包括:獲取同一型號不同批次的
芯片的實(shí)測參數(shù);基于所述實(shí)測參數(shù),分別對各批次進(jìn)行失效率和良率的聯(lián)合卡控;對經(jīng)所述聯(lián)合卡控篩選出的問題批次進(jìn)行部件平均測試;根據(jù)聯(lián)合卡控結(jié)果和部件平均測試結(jié)果輸出本次量產(chǎn)測試結(jié)果。
聲明:
“量產(chǎn)測試方法、系統(tǒng)和存儲(chǔ)介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)