本實(shí)用新型公開了一種微電子器件靜電帶電放電防護(hù)的自動(dòng)化電測取放機(jī)構(gòu),包括取放機(jī)構(gòu)、電性測試座、測試線纜、電性測試主機(jī)和
芯片,所述電性測試座通過測試線纜與電性測試主機(jī)連接,所述取放機(jī)構(gòu)位于電性測試座的上方,所述取放機(jī)構(gòu)包括自動(dòng)化機(jī)械手臂基座、吸盤組件和頂桿,所述吸盤組件的一側(cè)連接有轉(zhuǎn)接頭;本實(shí)用新型提供的吸盤組件,在安裝于自動(dòng)化測試設(shè)備上開始工作時(shí),在吸取微電子器件的封裝殼體時(shí),便即時(shí)將微電子器件絕緣殼體上經(jīng)過前操作過程累積的靜電荷對器件內(nèi)部線路的靜電作用強(qiáng)度大大降低,而這個(gè)器件帶電程度幾乎可以滿足絕大多數(shù)微電子器件帶電放電情形下的靜電安全,不會(huì)導(dǎo)致發(fā)生電性失效。
聲明:
“微電子器件靜電帶電放電防護(hù)的自動(dòng)化電測取放機(jī)構(gòu)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)