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用于集成電路硬件設計的故障注入測試的方法和系統(tǒng)

830   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網  
2023-03-19 09:00:33
本發(fā)明涉及用于集成電路硬件設計的故障注入測試的方法和系統(tǒng)。該方法包括:(a)接收識別所述硬件設計的一個或多個故障節(jié)點的原始故障節(jié)點列表;(b)接收指示所述原始故障節(jié)點列表中的故障節(jié)點分組成多個故障節(jié)點組的信息,每個故障節(jié)點組包括對所述硬件設計的失效模式具有相同影響的故障節(jié)點;(c)基于所述故障節(jié)點組生成最終故障節(jié)點列表;(d)從所述最終故障節(jié)點列表選擇一組故障注入參數,所述一組故障注入參數識別所述最終故障節(jié)點列表中要發(fā)生故障的至少一個故障節(jié)點;(e)基于所選擇的一組故障注入參數,通過使故障注入到所述硬件設計的仿真中,對所述硬件設計執(zhí)行故障注入測試;(f)確定所述故障注入測試的結果。
聲明:
“用于集成電路硬件設計的故障注入測試的方法和系統(tǒng)” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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