本實(shí)用新型公開(kāi)了一種NVMe M.2 SSD測(cè)試架轉(zhuǎn)板，現(xiàn)存在的技術(shù)，測(cè)試環(huán)節(jié)多，對(duì)產(chǎn)品金手指容易造成磨損，做RDT測(cè)試時(shí)，需用裝上5V轉(zhuǎn)3.3V轉(zhuǎn)板進(jìn)行測(cè)試，測(cè)試完成后再次卸下再進(jìn)行程序燒錄，拆裝影響效率，產(chǎn)品上SATA2.5”轉(zhuǎn)板需用皮筋捆綁方式固定，效率極低。本實(shí)用新型通過(guò)此轉(zhuǎn)板固定產(chǎn)品測(cè)試，大大減少了產(chǎn)品插拔次數(shù)，防止產(chǎn)品在測(cè)試過(guò)程插拔導(dǎo)致的金手指刮傷，磨損，通過(guò)尼龍螺絲對(duì)待測(cè)產(chǎn)品進(jìn)行卡扣，操作便捷，提升生產(chǎn)效率。目前市場(chǎng)普遍使用的橡皮筋摁綁方式，操作復(fù)雜，高溫后容易變形失效或斷裂，節(jié)省RDT過(guò)程中供電接口切換，提升生產(chǎn)效率。