一種IGBT剩余壽命預(yù)測和狀態(tài)評估實(shí)現(xiàn)方法,通過老化試驗(yàn)平臺(tái)采集IGBT模塊的集電極?發(fā)射極電壓Vce的關(guān)斷瞬態(tài)曲線,從中提取特征并濾波后通過深度自回歸遞歸神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)(Deep Autoregressive Recurrent Networks)進(jìn)行曲線趨勢預(yù)測,預(yù)測到的曲線超過閾值時(shí)判定IGBT失效,對應(yīng)得到IGBT模塊的老化程度和健康狀態(tài)。本發(fā)明以IGBT開光瞬間的瞬態(tài)波形特征作為IGBT老化的指標(biāo)。
聲明:
“IGBT剩余壽命預(yù)測和狀態(tài)評估實(shí)現(xiàn)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)