本發(fā)明涉及一種二極管正向壓降的測(cè)試方法,通過三步測(cè)量不同設(shè)計(jì)安培下的正向壓降,并經(jīng)過公式計(jì)算,顯著地減輕了探針臺(tái)上電阻對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,并且不同的設(shè)計(jì)安培下正向壓降的計(jì)算,輔以修正參數(shù),能夠得到有效的準(zhǔn)確的數(shù)值作為二極管通過和失效的依據(jù)。
聲明:
“二極管正向壓降的測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)