一種
芯片邏輯地址到物理地址的轉(zhuǎn)換方法和裝置,其中,方法包括:在芯片上選取失效區(qū)域;破壞失效區(qū)域;檢測(cè)失效區(qū)域,獲取失效區(qū)域中失效位存儲(chǔ)單元的邏輯地址;根據(jù)預(yù)設(shè)的邏輯地址到物理地址的轉(zhuǎn)換關(guān)系,得到失效位存儲(chǔ)單元的邏輯地址對(duì)應(yīng)的理論物理地址;對(duì)芯片作物理失效分析,將失效位存儲(chǔ)單元的理論物理地址與失效區(qū)域的實(shí)際位置進(jìn)行比較,得到理論物理地址到實(shí)際位置的偏移值;根據(jù)偏移值,得到芯片的邏輯地址到物理地址的轉(zhuǎn)換關(guān)系。通過(guò)所述方法和裝置,可以解決現(xiàn)有技術(shù)中邏輯地址到實(shí)際物理地址效率低下以及存在轉(zhuǎn)換出錯(cuò)的問(wèn)題。
聲明:
“芯片邏輯地址到物理地址的轉(zhuǎn)換方法和裝置” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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