本發(fā)明涉及可靠性試驗(yàn)技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種光纖陀螺可靠度加速試驗(yàn)方法。通過對(duì)所述光纖陀螺進(jìn)行失效機(jī)理分析和可靠性摸底試驗(yàn)來確定所述光纖陀螺的退化性能參數(shù)和敏感環(huán)境應(yīng)力，并根據(jù)所述退化性能參數(shù)和所述敏感環(huán)境應(yīng)力制定相應(yīng)的試驗(yàn)方案。然后對(duì)所述光纖陀螺進(jìn)行加速退化試驗(yàn)，對(duì)所得的試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，建立相應(yīng)的退化模型，從而推算出其失效時(shí)間，最后根據(jù)失效時(shí)間和壽命分布模型，對(duì)經(jīng)過測(cè)試的光纖陀螺進(jìn)行可靠性指標(biāo)評(píng)估。通過本發(fā)明提出的光纖陀螺可靠度加速試驗(yàn)方法對(duì)光纖陀螺進(jìn)行測(cè)試，可以有效減少試驗(yàn)的時(shí)間成本，同時(shí)也有效降低了試驗(yàn)成本；并且，最大限度模擬了光纖陀螺的真實(shí)退化環(huán)境因素，從而實(shí)現(xiàn)產(chǎn)品MTBF的準(zhǔn)確評(píng)估。