本申請公開了一種
芯片管理方法和系統(tǒng),將晶圓中的多個(gè)管芯分別與其對應(yīng)的身份信息關(guān)聯(lián),在晶圓測試過程采集晶圓中的多個(gè)管芯的第一測試數(shù)據(jù),在芯片測試過程采集芯片的第二測試數(shù)據(jù),芯片內(nèi)封裝有相應(yīng)的所述管芯,最后根據(jù)封裝在芯片內(nèi)的管芯的身份信息將第二測試數(shù)據(jù)與第一測試數(shù)據(jù)整合,得到追溯數(shù)據(jù)庫,在失效分析時(shí)可以根據(jù)待分析芯片的身份信息查找追溯數(shù)據(jù)庫得到該芯片的測試數(shù)據(jù),通過在芯片測試數(shù)據(jù)追溯中設(shè)計(jì)標(biāo)記信息,有利于節(jié)省了數(shù)據(jù)追溯時(shí)間和追溯成本,提高數(shù)據(jù)追溯的效率。
聲明:
“芯片管理方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)