本發(fā)明涉及一種儀器電控設(shè)備加速退化試驗(yàn)方法,首先根據(jù)儀器電控設(shè)備試驗(yàn)樣品的原始性能參數(shù)對(duì)儀器電控設(shè)備試驗(yàn)樣品的性能參數(shù)保質(zhì)期進(jìn)行預(yù)測(cè),然后合理地設(shè)置加速退化試驗(yàn)條件,在進(jìn)行加速退化試驗(yàn)置換,再對(duì)試驗(yàn)所得的失效時(shí)間數(shù)據(jù)進(jìn)行可靠性分析,確定滿足可靠性條件的失效時(shí)間數(shù)據(jù)作為試驗(yàn)樣品的試驗(yàn)數(shù)據(jù),能夠有效提高加速退化試驗(yàn)數(shù)據(jù)的可靠性。
聲明:
“儀器電控設(shè)備加速退化試驗(yàn)方法和系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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