本發(fā)明公開了一種金屬化膜電容器在交直流復(fù)合電壓下劣化機(jī)理的解耦方法,屬于電力設(shè)備測試技術(shù)領(lǐng)域。本發(fā)明通過對(duì)金屬化膜電容器及與金屬化膜電容器相同參數(shù)的導(dǎo)線電容,進(jìn)行老化試驗(yàn)對(duì)比,解耦出
電化學(xué)腐蝕和熱效應(yīng)、以及自愈現(xiàn)象所造成的金屬化膜電容器劣化,解耦方法簡單易行,有助于準(zhǔn)確分析金屬化膜電容器的失效原因,指導(dǎo)電容器的設(shè)計(jì)和應(yīng)用方法,以及電容器在工程應(yīng)用中的可靠性和壽命預(yù)測,進(jìn)而保證換流器的長期穩(wěn)定運(yùn)行。本發(fā)明可以廣泛應(yīng)用于直流輸電換流閥、風(fēng)電換流器等設(shè)備中的直流支撐電容,實(shí)用性強(qiáng)。
聲明:
“金屬化膜電容器在交直流復(fù)合電壓下劣化機(jī)理的解耦方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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