本發(fā)明涉及一種片式電感器的篩選方法,包括如下步驟:A、準備,將片式電感器放入金屬裝載盤中,并預熱高溫試驗箱、負溫試驗箱;B、低溫貯存,將裝好片式電感器的裝載盤放入負溫試驗箱,保持若干小時;C、第一次恢復,將片式電感器連同裝載盤室溫下放置0.5H~24H,檢查有無機械損傷;D、高溫貯存,將裝好片式電感器的裝載盤放入高溫試驗箱,保持若干時間;E、第二次恢復,將片式電感器連同裝載盤室溫下放置0.5H~24H,檢查有無機械損傷;F、后期檢測,對片式電感器進行檢測,剔出不良品。通過低溫貯存及恢復、高溫貯存及恢復,再進行檢測,可有效淘汰早期失效電感器,減少因電感器失效引起的系統(tǒng)或設備早期失效,確??煽啃?。
聲明:
“片式電感器的篩選方法” 該技術專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
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