本發(fā)明公開了存儲器、安全儀表系統(tǒng)SIL驗(yàn)證方法、系統(tǒng)和裝置,其中所述方法包括:將用于構(gòu)建可靠性框圖的安全儀表功能SIF回路分設(shè)置為包括傳感單元、邏輯控制器單元和執(zhí)行單元;根據(jù)所述SIF回路中各元件的失效數(shù)據(jù)分別計(jì)算各單元的安全失效分?jǐn)?shù)SFF與最大故障裕度HFT,并得到所述SIF回路的結(jié)構(gòu)約束等級;對三個(gè)單元分別進(jìn)行建模計(jì)算時(shí)包括:根據(jù)元件的定期檢測時(shí)間間隔及其對應(yīng)的檢驗(yàn)測試覆蓋率PTC計(jì)算元件的不可檢測的危險(xiǎn)失效部分的共因失效。本發(fā)明在計(jì)算不可檢測危險(xiǎn)失效部分的共因失效時(shí),相對于未考慮檢驗(yàn)測試周期變化造成的影響的現(xiàn)有技術(shù),本發(fā)明可以有效的提高SIF回路計(jì)算平均失效概率的結(jié)果的準(zhǔn)確性。
聲明:
“存儲器、安全儀表系統(tǒng)SIL驗(yàn)證方法、系統(tǒng)和裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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