本發(fā)明涉及自修復(fù)陣列系統(tǒng)和方法。可通過以下步驟來處理自修復(fù)陣列中的失效:通過監(jiān)測自修復(fù)陣列的失效元件的特性來檢測失效元件(52);通過調(diào)整自修復(fù)陣列的失效元件的特性以補(bǔ)償失效元件失效的部分來自動修正失效元件(62);或者當(dāng)自修復(fù)陣列的一個或多個元件失效時,通過檢測和模擬自修復(fù)陣列的失效的一個或多個元件對自修復(fù)陣列的性能的影響來修正自修復(fù)陣列的性能(72)。
聲明:
“自修復(fù)陣列系統(tǒng)和方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)