一種晶片篩選方法,包括:提供待封裝晶圓,所述待封裝晶圓包括若干晶片;對若干所述晶片進行失效檢測,在所述若干晶片中獲取第一失效晶片和初始通過晶片;獲取所述初始通過晶片在待封裝晶圓中的第一位置信息;對若干所述晶片進行風險檢測,在所述若干晶片中獲取第一風險晶片;獲取第一風險晶片在所述待封裝晶圓中的第二位置信息;當所述第一風險晶片在所述待封裝晶圓中的第二位置信息與初始通過晶片在待封裝晶圓中的第一位置信息相同時,標記所述初始通過晶片為第二失效晶片。所述方法能夠提高出貨良率,降低報廢率。
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