本申請(qǐng)適用于電子電路技術(shù)領(lǐng)域,提供了一種保護(hù)電路及電子設(shè)備,保護(hù)電路用于對(duì)目標(biāo)電路進(jìn)行保護(hù);保護(hù)電路包括采樣電路、比較電路以及檢測電路;采樣電路用于對(duì)目標(biāo)電路的目標(biāo)參數(shù)進(jìn)行采樣并輸出采樣值;比較電路與采樣電路連接,用于在采樣值大于或者等于第一參考值時(shí)輸出關(guān)斷信號(hào);關(guān)斷信號(hào)用于控制目標(biāo)電路斷開;檢測電路的第一端連接于采樣電路和比較電路之間,檢測電路的第二端用于與目標(biāo)電路連接;檢測電路用于對(duì)采樣電路和比較電路中的至少一個(gè)進(jìn)行故障檢測,并在檢測到存在故障時(shí)輸出故障信號(hào);故障信號(hào)用于控制目標(biāo)電路斷開,從而可以在目標(biāo)參數(shù)的采樣值超過第一參考值或者采樣電路和比較電路中的任意一個(gè)失效時(shí)實(shí)現(xiàn)對(duì)目標(biāo)電路的保護(hù)。
聲明:
“保護(hù)電路及電子設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)