本發(fā)明公開(kāi)了一種基于時(shí)間序列的超輻射發(fā)光二極管可靠性建模方法及系統(tǒng),包括:對(duì)試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行收集,并按照時(shí)間的順序?qū)?shù)據(jù)進(jìn)行排列;對(duì)序列的特征進(jìn)行觀察,選取合適的模型進(jìn)行擬合,根據(jù)數(shù)據(jù)擬合模型的擬合口徑,對(duì)模型進(jìn)行檢驗(yàn)并進(jìn)行優(yōu)化;使用擬合后的模型來(lái)判斷序列其他的統(tǒng)計(jì)量屬性,預(yù)測(cè)后面的發(fā)展,計(jì)算超輻射發(fā)光二極管偽失效壽命;使用可靠性模型對(duì)超輻射發(fā)光二極管建模,計(jì)算相關(guān)可靠性相關(guān)指標(biāo)并進(jìn)行預(yù)測(cè)。本發(fā)明根據(jù)超輻射發(fā)光二極管的數(shù)據(jù)退化特性選取擬合模型,選取多組參數(shù)口徑,并根據(jù)相關(guān)指標(biāo)進(jìn)行對(duì)比,最后得到最優(yōu)模型,再根據(jù)模型計(jì)算超輻射發(fā)光二極管偽失效壽命,進(jìn)行可靠性建模,完成超輻射發(fā)光二極管的可靠性建模工作。
聲明:
“基于時(shí)間序列的超輻射發(fā)光二極管可靠性建模方法及系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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