本發(fā)明涉及一種光模塊COC的老化方法，通過對(duì)光模塊加電使COC發(fā)光并有源耦合透鏡，通過監(jiān)控光纖輸出光功率確認(rèn)穿過透鏡的光耦合進(jìn)光纖；老化前在光模塊寫入預(yù)設(shè)測(cè)試程序，給光模塊上電，檢測(cè)器對(duì)準(zhǔn)光纖的出光口測(cè)試?yán)匣暗男阅軈?shù)；給光模塊寫入預(yù)設(shè)老化程序，將光模塊裝到老化板上放入老化環(huán)境中；將老化后光模塊寫入預(yù)設(shè)測(cè)試程序，用檢測(cè)器對(duì)準(zhǔn)光纖出光口測(cè)試?yán)匣驝OC性能參數(shù)；對(duì)比老化前后相關(guān)性能參數(shù)變化，篩選早期失效COC。本發(fā)明將COC與供電光模塊電連接，通過對(duì)光模塊兩端加電進(jìn)行老化COC并對(duì)其相關(guān)性能參數(shù)進(jìn)行測(cè)試，跟模塊的老化進(jìn)行合并，省掉COC夾具費(fèi)用成本，提高測(cè)試效率和降低工時(shí)。