一種實(shí)用的電子產(chǎn)品壽命評(píng)估模型參數(shù)高精度萃取方法包括如下步驟:(1)確定失效物理模型及待萃取的模型參數(shù);(2)獲取產(chǎn)品幾何和材料參數(shù)的均值和上下限,并采用工藝能力指數(shù)表征其不確定性;(3)根據(jù)產(chǎn)品幾何和材料參數(shù)的均值估算失效物理模型的初始模型參數(shù);(4)根據(jù)幾何和材料參數(shù)的分布類型抽樣獲得其隨機(jī)值;(5)結(jié)合Monte-Carlo仿真方法獲得產(chǎn)品壽命的隨機(jī)值;(6)根據(jù)壽命隨機(jī)值得到產(chǎn)品壽命的理論分布函數(shù);(7)采用殘存比率法對(duì)試驗(yàn)失效數(shù)據(jù)進(jìn)行處理得到產(chǎn)品壽命的經(jīng)驗(yàn)分布函數(shù);(8)利用K-S檢驗(yàn)方法對(duì)上述兩個(gè)壽命分布函數(shù)的擬合度進(jìn)行檢驗(yàn);(9)對(duì)模型參數(shù)進(jìn)行尋優(yōu)萃取,直到獲得擬合度最優(yōu)的模型參數(shù)。
聲明:
“實(shí)用的電子產(chǎn)品壽命評(píng)估模型參數(shù)高精度萃取方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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