本申請?zhí)峁┝艘环N修復存儲
芯片的方法和裝置,涉及計算機領域。該方法包括:獲取芯片的自檢參數(shù),并根據(jù)自檢參數(shù)對芯片進行修復操作,其中,自檢參數(shù)包括溫度和失效信息,失效信息又包括失效數(shù)據(jù)單元的地址和失效數(shù)據(jù)單元的檢錯信息。通過根據(jù)自檢參數(shù)對芯片進行相應的修復操作,能夠更好地發(fā)揮修復作用,提高修復效果,從而提高芯片的健壯性。
聲明:
“修復存儲芯片的方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)