本公開提供一種
芯片修補方法及裝置、電子設(shè)備以及計算機可讀存儲介質(zhì),該方法包括:獲取目標芯片,對目標芯片進行多驗證單元測試,得到第一測試通過芯片;對第一測試通過芯片進行單驗證單元測試,得到測試失效芯片;測試失效芯片包括部分失效芯片;獲取部分失效芯片中失效單元對應的失效單元地址;獲取預先配置的冗余單元,基于冗余單元與失效單元地址的相鄰地址對部分失效芯片進行修補處理。本公開對于多驗證單元測試通過且單驗證單元測試失敗的失效單元,采用冗余單元與失效單元地址的相鄰地址對失效單元進行修補,可以提高相關(guān)區(qū)域數(shù)據(jù)存儲的穩(wěn)定性,最大化利用bit資源或晶粒資源。
聲明:
“芯片修補方法及裝置、電子設(shè)備和存儲介質(zhì)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)