一種掃描電鏡中納米線原位拉伸裝置及方法,屬于
納米材料力學(xué)性能原位測(cè)量領(lǐng)域。該發(fā)明通過(guò)控制加熱器使雙金屬片發(fā)生彎曲變形,雙金屬片驅(qū)動(dòng)滑塊沿導(dǎo)軌向兩側(cè)直線運(yùn)動(dòng),拉伸變形固定在樣品臺(tái)上面的納米線,利用掃描電子顯微鏡原位實(shí)時(shí)記錄納米線在拉伸作用下彈塑性變形過(guò)程及斷裂失效的方式,最大斷裂應(yīng)變量,將納米線的力學(xué)性能與微觀結(jié)構(gòu)變化直接對(duì)應(yīng)起來(lái),從納米尺度上揭示的納米線的彈塑性變形機(jī)制、斷裂失效的形式,脆韌轉(zhuǎn)變機(jī)制等一維納米線的力學(xué)性能。與現(xiàn)有技術(shù)相比,本發(fā)明具有結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單,控制方便,應(yīng)變速率可控等優(yōu)點(diǎn),可以方便地在掃描電子顯微鏡中工作,實(shí)現(xiàn)了納米線力學(xué)性能的原位在線測(cè)量。
聲明:
“掃描電鏡中納米線原位拉伸裝置及方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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