本申請公開了一種可靠性評估方法及相關(guān)設(shè)備,涉及電子設(shè)備測試技術(shù)領(lǐng)域,目的在于提高可靠性評估的準確度。本申請使用目標設(shè)備在多個失效高度對應(yīng)的失效樣品數(shù)量,進行失效高度分布擬合,得到目標設(shè)備的失效高度分布模型,并使用多個用戶的使用高度,進行使用高度的分布擬合,得到使用高度分布模型。然后通過目標設(shè)備的失效高度分布模型和使用高度分布模型,計算得到目標設(shè)備的失效概率。由于目標設(shè)備的失效概率是結(jié)合了用戶的使用場景而計算得到的,計算出的失效概率用于評估跌落場景下的可靠性時,能使得評估結(jié)果更為準確。
聲明:
“可靠性評估方法及相關(guān)設(shè)備” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)