本發(fā)明公開(kāi)了讀取非易失性存儲(chǔ)器電流的方法及獲取電流分布狀態(tài)的方法,讀取非易失性存儲(chǔ)器電流的方法為被測(cè)的非易失性存儲(chǔ)器中的每個(gè)存儲(chǔ)單元均處于測(cè)試狀態(tài),該方法為同時(shí)測(cè)量所有存儲(chǔ)單元的電流,所述存儲(chǔ)單元為被測(cè)器件;其中,每個(gè)被測(cè)器件的電流測(cè)試為:獲取所述被測(cè)器件中的電流;判斷所述被測(cè)器件是否處于編程狀態(tài),若是,根據(jù)所述電流獲取所述被測(cè)器件失效單元個(gè)數(shù);若否則所述被測(cè)器件失效單元為零個(gè)結(jié)束。本發(fā)明很大程度上縮短了測(cè)試時(shí)間,有效地提高了測(cè)試效率。
聲明:
“讀取非易失性存儲(chǔ)器電流的方法及獲取電流分布狀態(tài)的方法” 該技術(shù)專(zhuān)利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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