本發(fā)明涉及一種串聯(lián)二極管集成裝置,包括:引線框架;位于引線框架上通過(guò)金屬線依次串聯(lián)的至少兩個(gè)二極管
芯片;從串聯(lián)的第一個(gè)二極管芯片的陽(yáng)極引出的陽(yáng)極引線;從串聯(lián)的最后一個(gè)二極管芯片的陰極引出的陰極引線,從連接相鄰兩個(gè)二極管的金屬線引出的外接引線;以及設(shè)置在引線框架上的絕緣層,陰極引線、陽(yáng)極引線與外接引線分別與引線框架上引腳連接形成陰極引腳、陽(yáng)極引腳和調(diào)壓腳。通過(guò)調(diào)壓腳、陽(yáng)極引腳和陰極引腳,可測(cè)試串聯(lián)二極管集成裝置中每個(gè)二極管芯片在工作時(shí)承受的電壓,從而依照實(shí)際需要在電路板中配置電阻和/或電容以降低電壓過(guò)高位置的二極管芯片的電壓,避免串聯(lián)的多個(gè)二極管無(wú)法平均承受電壓而失效,提高串聯(lián)的二極管的可靠性。
聲明:
“串聯(lián)二極管集成裝置” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)