一種光學元件亞表面缺陷的多通道原位檢測裝置及檢測方法,用于玻璃等光學元件缺陷測試。該裝置包括由熒光共聚焦成像系統(tǒng)、熒光壽命成像系統(tǒng)、光熱吸收成像系統(tǒng)三個通道構成,可一次性實現光學元件亞表面微納缺陷幾何形態(tài)、光致熒光、光熱吸收特性的原位測試。本發(fā)明具有裝置結構緊湊、檢測通用性強、穩(wěn)定性高的特點,適用于亞表面缺陷的高靈敏度無損檢測。
本實用新型提供了一種金屬管道應力磁檢測儀,該方案包括弱磁信號采集部分、GPS定位信號部分、定距離信號發(fā)生裝置、信號處理部分、信號顯示部分、檢測數據無線傳輸部分、SD存儲卡;該方案采用三軸梯度磁力儀或三維磁場傳感器采集金屬管道的弱磁信號;采用GPS記錄檢測儀的位置和路徑;定距離信號發(fā)生裝置發(fā)出采集弱磁信號的記錄指令,記錄檢測位置距參照物之間的精確距離;采集的弱磁信號經由微處理器進行數字處理、運算、儲存,將處理后的弱磁信號顯示在觸摸屏上;檢測數據可通過無線方式實時傳送到數據分析中心。該方案能夠在不對構件表面進行清理的情況下對鐵磁性金屬構件進行診斷,防止突發(fā)性的疲勞破壞,是無損檢測領域的一種新的設備。
本發(fā)明屬于無損檢測技術領域,公開了一種用于軸向通電法磁粉檢測的試件以及該試件的檢測方法。檢測方法包括以下步驟:將試件固定在磁探檢測臺兩個夾頭之間并使試件保持水平;對試件通電磁化并施加磁粉或磁懸液獲得磁痕;記錄磁化電流大小和磁痕的長度;依據公式計算出磁粉檢測深度。本發(fā)明所提供的試件能夠用于軸向通電法磁粉檢測近表面縱向缺陷的可檢深度;該試件的檢測方法,能夠用于制定合適可行的軸向通電法磁粉檢測工藝,用于檢測鐵磁性實心和空心工件近表面縱向缺陷可檢深度的工藝靈敏度、分辨率、可靠性驗證,優(yōu)化軸向通電法磁粉工藝參數,提高該類型工件近表面縱向缺陷檢測能力。
本發(fā)明屬于無損檢測技術領域,公開了一種用于中心導體法磁粉檢測的試件以及該試件的檢測方法,檢測方法包括將導體放置在磁探檢測臺兩個夾頭之間,試件套在導體上,用支撐工件固定試件使導體位于試件的中心位置;對導體通電磁化并施加磁粉或磁懸液獲得磁痕;記錄磁化電流大小和磁痕的長度;依據公式計算出磁粉檢測深度。本發(fā)明的試件能夠用于中心導體法磁粉檢測內壁近表面縱向缺陷的可檢深度,該試件的檢測方法能夠用于制定合適可行的中心導體法磁粉檢測工藝,用于檢測鐵磁性材料管子等空心件的內壁近表面縱向缺陷可檢深度的工藝靈敏度、分辨率、可靠性驗證,優(yōu)化中心導體法磁粉檢測工藝參數,提高該類型工件的內壁近表面縱向缺陷檢測能力。
本發(fā)明公開了一種顆粒材料沖擊波感度試驗的無損制樣方法,具體操作步驟如下:(1)根據隔板試驗標準方法加工制作滿足尺寸要求的試樣套筒,(2)稱量空的試樣套筒質量m1,(3)將待測試的散狀試樣顆粒振實裝填在試樣套筒內,(4)稱量試樣顆粒裝填后的試樣套筒質量m2,(5)將裝填后的試樣套筒放入盛有浸潤液的容器內充分浸潤。該制樣方法不會對試樣顆粒的晶體顆粒破碎,制樣方法簡單,消除了顆粒間孔隙對于沖擊波感度測試結果的影響,真實反映了試樣顆粒特性對于沖擊波感度的影響,可以顯著區(qū)分不同晶體品質含能晶體顆粒材料的沖擊波感度。
本發(fā)明公開了一種全自動柱狀鐵磁性工件熒光磁粉無損探傷系統(tǒng),該系統(tǒng)主要包括全自動上下料系統(tǒng)、磁痕圖像獲取系統(tǒng)、工件缺陷智能識別系統(tǒng)、磁懸液濃度測量及污染檢測系統(tǒng),自動完成從生產線的工件集總正位、傳送、磁化、磁懸液浸染、磁痕圖像獲取、缺陷判定。本發(fā)明通過設計的機械裝置,使柱狀工件在重力作用下自動完成上料排序及正位,避免通常使用的振動盤方式排序工件,避免工件收到二次碰撞損傷,同時,工件表面的磁懸液沾染過程采用浸染式而非傳統(tǒng)的噴淋式,在使工件表面更加均勻沾染磁懸液的同時,排除噴淋式帶來的液滴飛濺弄臟相機鏡頭及磁懸液霧化使相機鏡頭模糊的影響,從而提升了磁痕圖像質量及系統(tǒng)的應用性。
本實用新型公開了一種快速無損采集水果質地信息的裝置。所述裝置包括兩塊具有高度差的支撐板和、傾斜碰撞板、固定臺面和傳感器;兩塊支撐板采用螺柱豎直地固定在水平的固定臺面上,傾斜碰撞板兩端分別采用螺釘與兩塊支撐板的頂部固定,兩塊支撐板的高度不同使得傾斜碰撞板與水平面之間呈傾斜布置,傳感器固定安裝在傾斜碰撞板背面。本實用新型通過采用水果自由跌落撞擊傾斜碰撞板的方式獲取水果的振動信息從而采集水果質地信息,不破壞被測樣本,檢測效率高,極大地降低了檢測設備成本。
本發(fā)明公開了一種無損評價光學元件損傷性能的方法,連續(xù)激光器能發(fā)出連續(xù)激光,經第一能量調節(jié)器、第一透鏡、反射鏡、樣品正面后,照射到樣品背面,連續(xù)激光經樣品反射的反射方向上設有殘余激光收集器;脈沖激光器能發(fā)出脈沖激光,經第二能量調節(jié)器、縮束系統(tǒng)、劈板、第二透鏡后,照射到樣品背面。本發(fā)明通過對于待測光學元件相同的元件,進行多樣品、多位置的測試,獲得此類光學元件中,熒光缺陷數據與激光損傷閾值和損傷密度的關聯關系,從而對待測樣品進行測量時,通過測量其熒光缺陷數據,從而推算出損傷閾值和損傷密度。該方法可以通過無損檢測光學元件的熒光缺陷獲得光學元件的損傷性能水平,實現光學元件損傷性能的無損評價。
本發(fā)明公開了一種高溫接觸熱阻的無損快速測量方法,根據介質溫度?超聲傳播特性,采用超聲回波法,獲得瞬態(tài)傳熱條件下超聲傳播時間,優(yōu)化求解熱傳導反問題,可快速、無損、非接觸地測量隨溫度變化的界面接觸熱阻參數。本發(fā)明的方法所需測量裝置簡單、測量周期短,且不需要傳感器與被測試件接觸,避免了傳感器與被測試件接觸的干擾以及測量范圍受到傳感器耐高溫性能的限制。
本發(fā)明公開了一種基于超聲波的瞬態(tài)轉捩熱流的無損探測方法,本發(fā)明基于超聲波在固體結構中的傳播時間,通過求解波傳播路徑和熱傳導反問題,反演導致結構溫度變化的瞬態(tài)轉捩熱流,同時,較為精確的計算出轉捩位置。本發(fā)明公開的超聲無損探測方法,無需破壞結構,有效的保證了結構的強度和剛度,直接求解超聲波路徑方程和二維熱傳導反問題,減小了轉捩熱流測量的原理性誤差,實時性強,分辨率高、穩(wěn)定性好,可實現轉捩熱流和轉捩位置的同時高精度測量。
本發(fā)明的部件物相成分深度分布無損測量方法,使用中子源和探測器在樣品同側布置形成的反射式衍射幾何布局,分別通過四維臺和探測器進行測點位置選取和數據信號采集,從而實現部件內部不同位置物相成分分布的無損測量。根據樣品規(guī)格和重量等實際情況選取適宜的四維臺及安裝方式進行測點尺寸限定,通過探測器收集來樣品內部不同測點的數據信號并分析得到對應的物相和成分信息。本發(fā)明的部件物相成分深度分布無損測量方法,適用于部件級樣品內部不同位置物相成分分布的無損測量。
本發(fā)明公開了一種聲學振動快速無損測定水果貨架期或最佳食用期的方法。方法包括采集建模樣品集、測定質量、采集振動響應信號、水果品質檢測、提取振動特征參數、計算各貯藏溫度下振動特征參數變化速率、貨架期或最佳食用期預測模型的建立、待測水果的測定等步驟。本發(fā)明通過聲學振動處理,采用無損檢測的方式,實現水果貨架期和最佳可食用期的準確測定,能實現水果樣本的快速個體檢測并避免浪費。
本發(fā)明公開了一種基于差壓原理的無損檢漏方法及裝置,包括:充氣步驟:選取與待檢密封容器相同的基準物,測量基準物漏率;密封步驟:將待檢密封容器及基準物分別裝入兩個相同的檢測罐體內并密封;抽氣步驟:將檢測罐體內部與待檢密封容器之間的腔體、測罐體內部與基準物之間的腔體均抽至檢漏所需壓力形成真空室;累積步驟:關閉抽氣閥門,平衡預設時間段后打開隔離閥門,開始累積,通過差壓傳感器測量累積前后兩個檢測罐體內部的壓力差,計算出待檢密封容器的整體漏率,本方法及裝置無需對待檢密封容器內部充氣或抽氣,檢漏過程不破壞密封容器內部原有氣氛,能夠實現該類產品的無損檢漏。
本實用新型提供了一種適用于乏燃料棒無損檢測的工業(yè)CT后準直器,該方案包括有蓋板、準直體和位移裝置;蓋板為兩片,準直體固定在兩片蓋板之間形成準直機構;準直機構設置在位移裝置上;位移裝置能夠驅動準直機構橫向移動以及旋轉。該方案采用位移裝置驅動準直器機構運動,能夠滿足射線出束角度的要求,又能夠滿足整臺工業(yè)CT系統(tǒng)的相對幾何位置關系。
本實用新型公開了一種聚合物材料老化效應無損檢測系統(tǒng),包括熱腔模塊和吸收模塊,熱腔模塊的側面設置連接所述吸收模塊,述熱腔模塊為一中空可開啟的密封腔體,腔體內部正中有一天平,所述天平上方可盛放待測試聚合物材料,熱腔模塊與所述吸收模塊之間為絕熱隔層,隔層下部有一管道與所述吸收模塊內的吸收杯下部直接連接,管道為密閉管道,所述吸收杯內可盛放一定質量的吸收劑;本實用新型結構設計簡單、便于實際操控,應用于檢測時通過對溫度和壓力的控制不會對待測聚合物部組件及其材料造成任何破壞,且檢測前后的機械性能和外觀狀態(tài)無任何差異,對老化效應程度及演化趨勢的判斷快捷,尤其適用于有效宏觀性能或微觀結構變化不明顯的老化情況。
本發(fā)明公開了一種應用于大型壓力容器紅外無損檢測的SIFT圖像拼接方法,包括以下步驟:采集紅外視頻流;采用紅外熱像儀記錄構建表面溫度分布得到圖像序列構成紅外成像視頻流;視頻流信號處理獲得重構圖像;使用PCA?SIFT算法獲得拼接圖像特征描述算子;對特征點對進行以余弦值為度量的粗匹配;對獲得的粗匹配點對進行RANSAC去誤匹配;對圖像進行仿射變換;對被測圖像利用H變換矩陣進行旋轉,平移,縮放操作,從而獲得基準圖像對應的拼接圖像;對拼接圖像亮度進行調整;對圖像進行漸入漸出融合;仿真驗證算法的拼接效果,對大型壓力容器進行拼接實驗;本發(fā)明在保留特征點的主要特征信息的同時減少計算復雜度,提高了程序的運行速度。
本發(fā)明公開一種大曲率微小件表面多層金屬薄膜的無損檢測方法,包括以下步驟:S1:采用同步輻射X射線微束技術對樣品進行檢測;S2:采用切入射方法獲得表面金屬膜層的衍射信號,通過轉動樣品,使樣品與入射X射線相切,入射X射線與樣品表面夾角趨近于0°,進而獲得表面金屬膜層的衍射信號;S3:采用掠入射方法獲得中間金屬膜層的衍射信號,通過轉動樣品,使樣品中間層與入射X射線形成夾角,夾角小于5°,進而獲得中間層金屬薄膜鍍層的衍射信號;S4:采用透射方法對衍射信號進行校準,此時轉動樣品,使X射線水平穿透2層復合鍍層,從而獲得2套衍射信號以輔助校準;采用具有高亮度的同步輻射光源和同步輻射微束技術獲得微米級的空間分辨率。
本實用新型公開了用于無損檢測的夾持組件,包括第一旋轉卡盤、第二旋轉卡盤、工件夾緊回轉機構、工件夾緊機構;工件夾緊回轉機構包括第一基座、第一軸承機座,第一旋轉卡盤連接在第一軸承機座上,第一軸承機座與第一基座通過軸線豎直的螺栓連接,螺栓與第一基座螺紋配合;工件夾緊機構包括第二基座、第二軸承機座,第二旋轉卡盤連接在第二軸承機座上,第二軸承機座與第二基座通過軸線豎直的螺栓連接,螺栓與第二基座螺紋配合。本實用新型用以解決現有技術中CT無損檢測中的夾持組件可調性差,且難以保證被夾持的工件水平的問題,實現能夠滿足對各種長度的工件的夾持需求、同時靈活調整工件水平度的目的。
本實用新型為一種對各種材料和器件表面進行無損缺陷檢測的裝置,特別是采用渦流法進行檢測的磁光渦流成像無損檢測裝置,由架體縱向固定的半導體激光光源、偏振分光器、磁感應器及磁感應器下端固定的法拉第旋轉元件和架體橫向固定的偏振分光器、偏振片、凸透鏡、成像顯示器構成,其中,偏振分光器在縱、橫架體的交叉點上,偏振分光器沿45°角鍍有下層單向反光膜。本實用新型與現有渦流檢測相比優(yōu)點是:檢測準確度高,是現有渦流檢測效率的5-50倍;檢測時無需對被測件表面油漆等清除;檢測結果圖象化,直觀易懂,可通過錄象保存。
本實用新型公開了一種接觸式無損檢測表面缺陷的裝置,包括:透明塑料操作柜;水平移動組件,其設置在透明塑料操作柜內;升降組件,其水平設置在所述水平移動組件的上方;力檢測組件,其與所述升降組件的升降端固定連接;滴液管,其與所述力檢測組件固定連接,且所述滴液管位于所述水平移動組件的上方;數據控制處理終端,其位于所述透明塑料操作柜外,且所述數據控制處理終端分別與水平移動組件、力檢測組件、升降組件電通信連接。本實用新型,通過液滴進行接觸式無損檢測表面缺陷,可以在各種材料的樣品上進行檢測,具有無損檢測、檢測效果穩(wěn)定、操作簡單、適用性強的有益效果。
本實用新型公開了一種可調式無損檢測收發(fā)組合,射線源系統(tǒng)包括加速器懸臂、第一直線導軌、加速器機架,加速器機架內設置加速器升降導軌、加速器;加速器機架由第一驅動機構驅動沿第一直線導軌進行移動,加速器由第二驅動機構驅動沿加速器升降導軌進行移動;探測器系統(tǒng)包括探測器懸臂、第二直線導軌、探測器機架,探測器機架內設置探測器升降導軌、探測器;探測器機架由第三驅動機構驅動沿第二直線導軌進行移動,探測器由第四驅動機構沿探測器升降導軌進行移動。本實用新型用以解決現有技術中CT無損檢測設備可調性差、適用范圍窄的問題,實現便于靈活調整射線源與探測器之間的相對位置,增大適用范圍、提高通用性的目的。
本發(fā)明公開了一種紅外無損檢測的熱圖像缺陷特征增強處理方法,在本發(fā)明中,一種用于紅外無損檢測的熱圖像增強處理技術被應用到特燃承壓設備表面無損檢測中。為了更完善,更有效率的提取缺陷特征,一種新的算法在發(fā)明中對試件進行處理分析。新的算法包括了復雜的數值分析計算,模糊運算,利用了峰態(tài)系數對數據進行處理,從而提高了缺陷檢測的多樣性,以及檢測方法的有效性。
本實用新型公開了一種車載CT無損檢測系統(tǒng),包括檢測系統(tǒng)車,測控車,線纜,所述檢測系統(tǒng)車包括第一車體,所述第一車體內設置射線源系統(tǒng)、探測器系統(tǒng)、夾持組件,所述夾持組件用于夾持被測工件,所述射線源系統(tǒng)用于放出射線,所述探測器系統(tǒng)用于接收穿過被測工件后的射線;所述測控車包括第二車體,所述第二車體內設置測控監(jiān)控系統(tǒng),所述測控監(jiān)控系統(tǒng)與探測器系統(tǒng)之間通過線纜連接。本實用新型的目的在于提供一種車載CT無損檢測系統(tǒng),以解決現有技術中CT無損檢測不利于檢測人員作業(yè)安全的問題,實現遠距離控制操作,分級防護、確保檢測人員作業(yè)安全的目的。
本發(fā)明公開了一種接觸式無損檢測表面缺陷的裝置,包括:透明塑料操作柜;水平移動組件,其設置在透明塑料操作柜內;升降組件,其水平設置在所述水平移動組件的上方;力檢測組件,其與所述升降組件的升降端固定連接;滴液管,其與所述力檢測組件固定連接,且所述滴液管位于所述水平移動組件的上方;數據控制處理終端,其位于所述透明塑料操作柜外,且所述數據控制處理終端分別與水平移動組件、力檢測組件、升降組件電通信連接。本發(fā)明通過液滴接觸式無損檢測表面缺陷,可以在各種材料的樣品上進行檢測,具有無損檢測、檢測效果穩(wěn)定、操作簡單、適用性強的有益效果。
本發(fā)明涉及一種六硝基六氮雜異伍茲烷晶型的無損檢測方法及系統(tǒng),先獲取待測樣品的太赫茲光譜,并對太赫茲光譜進行處理,繪制待測樣品的吸收光譜圖,最終對比待測樣品的吸收光譜圖與標準樣品的吸收光譜圖,確定待測樣品的晶型。本發(fā)明將太赫茲光譜技術應用于炸藥晶型檢測領域,以實現典型單質炸藥CL?20樣品晶型的無損檢測。
本發(fā)明的實施例公開一種基于電渦流脈沖熱成像的無損檢測方法及系統(tǒng),方法包括:通過初始加熱脈沖信號控制感應加熱器產生高頻交流電,結合感應線圈提供電渦流激勵以加熱被測樣件;測量被測樣件的紅外熱輻射以獲取被測樣件的表面熱分布,并依據表面熱分布得到紅外熱成像圖序列并進行處理,獲取被測樣件的預定采樣點的采樣溫度;如果所述采樣溫度不小于預先設置的無損檢測高溫閾值,向脈沖發(fā)生器輸出停止加熱指令,如果所述采樣溫度不大于預先設置的無損檢測低溫閾值,向脈沖發(fā)生器輸出啟動加熱指令;依據停止加熱指令控制感應加熱器斷開電源,依據加熱指令控制感應加熱器啟動電源產生高頻交流電。應用本發(fā)明,可以提升加熱的溫度控制精度。
本發(fā)明公開了光學元件強激光損傷特性的無損檢測與評價方法,旨在解決現有技術不能通過無損檢測評價光學元件激光損傷特性的難題。本發(fā)明包括:通過實驗獲得光學元件的無損檢測數據以及強激光作用下發(fā)生損傷的激光參數;將無損檢測數據與損傷測試結果作為特征量,使用深度學習方法,根據無損檢測數據、激光參數及損傷測試結果,獲得光學元件激光損傷特性的檢測評價模型;將待檢測的光學元件進行無損檢測,將獲得的無損檢測數據和激光參數作為檢測評價模型的輸入量,從而獲得該光學元件的激光損傷特性檢測結果,實現強激光損傷特性的無損檢測與評價。
本發(fā)明公開了一種高分子材料老化效應無損檢測裝置及其檢測方法,裝置包括熱腔模塊和吸收模塊,熱腔模塊的側面設置連接吸收模塊,述熱腔模塊為一中空可開啟的密封腔體,腔體內部有一天平,天平上方可盛放待測試高分子材料,熱腔模塊與吸收模塊之間為絕熱隔層,隔層下部有一管道與所述吸收模塊內的吸收杯下部直接連接,所述管道為密閉管道,所述吸收杯內可盛放一定質量的吸收劑;本發(fā)明結構設計簡單、便于實際操控,整個檢測過程通過對溫度和壓力的控制不會對待測高分子部組件及其材料造成任何破壞,且檢測前后的機械性能和外觀狀態(tài)無任何差異,對老化效應程度及演化趨勢的判斷快捷有效,尤其適用于宏觀性能或微觀結構變化不明顯的老化情況。
本實用新型提供一種用于無損探傷檢測的微型物件夾持組件及無損探測裝置,夾持組件包括:一對壓板,壓板一端設有夾持部;扭轉彈簧,扭轉彈簧一端連接其中一個壓板的另一端,扭轉彈簧另一端連接其中另一個壓板的另一端;調節(jié)把手,其桿部穿于一對壓板,并與一對壓板螺紋連接;旋轉臺,其中一個壓板的另一端固定于旋轉臺的轉動部;橫向裝配組件,用于驅動旋轉臺在與旋轉臺轉動軸線垂直的平面沿水平移動,旋轉臺設于橫向裝配組件上;縱向裝配組件,用于橫向裝配組件升降,橫向裝配組件設于縱向裝配組件上??蓪崿F在無損探傷檢測中能有效對微型物件的進行夾持,并能通過多行程調整以完成精確對位,并完成對微型物件的旋轉無損檢測。
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