穩(wěn)態(tài)條件下的高溫結(jié)構(gòu)內(nèi)部溫度及壁厚同時(shí)測量方法 921     

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本發(fā)明公開了一種穩(wěn)態(tài)條件下的高溫結(jié)構(gòu)內(nèi)部溫度及壁厚同時(shí)測量方法，解決了穩(wěn)態(tài)條件下的高溫結(jié)構(gòu)內(nèi)部溫度及壁厚無法同時(shí)測量的問題，該方法基于超聲檢測信號(hào)，將結(jié)構(gòu)厚度和內(nèi)部溫度的同時(shí)測量轉(zhuǎn)化為熱傳導(dǎo)問題熱邊界條件和結(jié)構(gòu)厚度的多參數(shù)識(shí)別問題。其中，采用增大初始時(shí)間和時(shí)間步，使得瞬態(tài)求解得到的結(jié)構(gòu)內(nèi)部非均勻溫度場與穩(wěn)態(tài)結(jié)果保持一致，將穩(wěn)態(tài)傳熱條件下的一個(gè)有效測量數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)化為瞬態(tài)條件下的多個(gè)有效測量數(shù)據(jù)，以有效解決多參數(shù)識(shí)別中輸入信息不足帶來的矩陣奇異問題。該方法通過求解熱傳導(dǎo)反問題，可快速、無損、非接觸地測量穩(wěn)態(tài)傳熱條件下相關(guān)的結(jié)構(gòu)內(nèi)部溫度和厚度。

針對中錳鋼馬氏體相變的磁性測量裝置及其實(shí)現(xiàn)方法 735     

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本發(fā)明公開了一種針對中錳鋼馬氏體相變的磁性測量裝置，包括磁屏蔽間和龍門式測量架，還包括固定在龍門式測量架內(nèi)的探頭夾，設(shè)置在該探頭夾下方的磁強(qiáng)計(jì)探頭，與該磁強(qiáng)計(jì)探頭連接、并位于磁屏蔽間外的磁通門磁強(qiáng)計(jì)數(shù)字顯示器，位于磁強(qiáng)計(jì)探頭下方、且用于放置中錳鋼樣品并定位樣品坐標(biāo)的無磁滑臺(tái)，與該無磁花臺(tái)連接、用于使無磁滑臺(tái)做往復(fù)直線運(yùn)動(dòng)的絲桿，以及設(shè)置在龍門式測量架上、用于固定絲桿兩端的固定底座；所述磁屏蔽間內(nèi)的直流剩磁為1mGs。本發(fā)明屬于無損檢測，不僅可以定性判斷中錳鋼馬氏體的多少，磁場幅值與樣品沖擊韌性之間存在正相關(guān)關(guān)系，而且檢測方式靈活、對人體健康無害。

太赫茲精細(xì)譜探測儀 852     

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本發(fā)明公開了一種用于物質(zhì)的太赫茲精細(xì)譜探測儀，采用室溫相干太赫茲源和檢測方法，包括發(fā)射支路和接收支路，發(fā)射支路和接收支路均設(shè)計(jì)有太赫茲倍頻鏈陣列，通過太赫茲倍頻鏈陣列來產(chǎn)生連續(xù)太赫茲波；太赫茲倍頻鏈陣列根據(jù)實(shí)際測量需求設(shè)計(jì)有具體的分段數(shù)，利用這種太赫茲倍頻鏈陣列可以實(shí)現(xiàn)0.1?1.5?THz范圍全覆蓋；因此本發(fā)明，可以測量物質(zhì)的太赫茲精細(xì)譜，譜分辨率可達(dá)百KHz，比THz?TDS系統(tǒng)提升三個(gè)量級(jí)；本發(fā)明采用全固態(tài)方式實(shí)現(xiàn)，易于集成，可靠性高；進(jìn)一步的，采用自由空間法測量物質(zhì)的透射譜，具有校準(zhǔn)方便、對待測樣品無損傷的優(yōu)點(diǎn)。

材料殘余應(yīng)力的光纖測量裝置及監(jiān)測方法 944     

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本發(fā)明公開了一種材料殘余應(yīng)力的光纖測量裝置及監(jiān)測方法，該裝置包括橡膠底座、橡膠底座凹槽、第一層光纖光柵傳感器串、橡膠、第二層光纖光柵傳感器串、石英護(hù)管、光纖光柵解調(diào)裝置，本發(fā)明通過設(shè)計(jì)一種材料殘余應(yīng)力的光纖測量裝置，研究高精度的材料殘余應(yīng)力無損測試方法，結(jié)構(gòu)簡單，精度高等特點(diǎn)；本發(fā)明提供了一種材料殘余應(yīng)力的監(jiān)測方法，對材料外表面整體應(yīng)釋放測試是采用加載靜態(tài)載荷或動(dòng)態(tài)載荷的方法；對于材料內(nèi)部應(yīng)力釋放測試研究，基于超聲波和接觸式光纖光柵傳感陣列，根據(jù)不同傳感器對超聲信號(hào)的響應(yīng)時(shí)間，定位材料內(nèi)部應(yīng)力不均勻處，結(jié)合有限元軟件，分析材料內(nèi)部殘余應(yīng)力的分布。

風(fēng)力機(jī)葉片表面壓力測量罩及其測量系統(tǒng) 1030     

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本發(fā)明公開了一種風(fēng)力機(jī)葉片表面壓力測量罩及其測量系統(tǒng)，屬于風(fēng)力壓力測量技術(shù)領(lǐng)域。風(fēng)力機(jī)葉片表面橫向形成其表面高于葉片表面的測量罩，所述的測量罩外周形成可容納傳感器內(nèi)凹的凹點(diǎn)，凹點(diǎn)內(nèi)設(shè)置傳感器本發(fā)明通過在葉片表面形成其表面高度高于葉片的測量罩，測量罩無損于葉片本身，且能得到滿意的精度，協(xié)調(diào)了傳統(tǒng)風(fēng)力機(jī)葉片表面壓力測量中代價(jià)與精度之間的矛盾。通過使用玻璃鋼或碳纖維自制測量罩，厚度6～10mm，與葉片本身的固定可采用膠結(jié)并輔以螺桿加固，測量罩內(nèi)置精度較高的差壓式壓力傳感器，從而提高了測量罩的測量精度。

以酸化處理法測定微生物培養(yǎng)體系中鈷含量的方法 672     

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本發(fā)明公開了一種以酸化處理法測定微生物培養(yǎng)體系中鈷含量的方法，其特征是：取0.5～3.5mL的待測樣品置于開口容器中，按1：1的體積比加入質(zhì)量百分比濃度為65%～68%的濃硝酸，振蕩混勻；所述待測樣品是微生物培養(yǎng)體系中含有鈷離子的待測溶液；將混合液加熱至沸騰，振蕩驅(qū)酸，蒸發(fā)至近干，再加入純水溶解，無損失的轉(zhuǎn)移到10mL容量瓶中，最后加入水定容至刻度線；采用分光光度法或/和原子吸收光譜法測定容量瓶中水溶液中的鈷含量。本發(fā)明通過對待測樣品酸化處理，避免了微生物培養(yǎng)基成分對鈷測定干擾大的缺點(diǎn)，同時(shí)還不會(huì)引入其他雜質(zhì)，具有操作簡便、快速、準(zhǔn)確及靈敏等優(yōu)點(diǎn)，能成功應(yīng)用于微生物培養(yǎng)體系中鈷含量的測定。

渦輪增壓器轉(zhuǎn)速測量儀及測量方法 1164     

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本發(fā)明用于渦輪增壓器無損轉(zhuǎn)速測量。所述渦輪增壓器轉(zhuǎn)速測量儀包括依次電性連接的磁電式傳感器、放大模塊以及DSP信號(hào)處理模塊,其中,磁電式傳感器固定于增壓器壓氣機(jī)外殼上,且其軸向位置臨近被磁化的螺母,所述DSP信號(hào)處理模塊包括TMS320F2812芯片、AD模塊、DA模塊以及LAN接口、RS232接口,其中,所述AD模塊與放大模塊相連,且該DSP信號(hào)處理模塊連接有鍵盤和液晶屏。本發(fā)明渦輪增壓器轉(zhuǎn)速測量儀采用快速傅里葉變換,將轉(zhuǎn)速信號(hào)從時(shí)域轉(zhuǎn)化到頻域,采用識(shí)別算法在頻域提取轉(zhuǎn)速特征頻率,獲得轉(zhuǎn)速。因此無需對增壓器結(jié)構(gòu)的破壞,成本較低。而且當(dāng)轉(zhuǎn)速在20000到120000內(nèi)的測量滿量程誤差小于±0.2‰(滿量程300000rpm),能較好的滿足實(shí)際測速要求,且具有較高的低轉(zhuǎn)速測量精度。

基于磁性標(biāo)記的順磁箱內(nèi)物體位移測量裝置及其測量方法 926     

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本發(fā)明公開了一種基于磁性標(biāo)記的順磁箱內(nèi)物體位移測量裝置，包括磁屏蔽間、龍門式測量架、磁性標(biāo)記、第一測量系統(tǒng)和第二測量系統(tǒng)，其中：龍門式測量架設(shè)置在磁屏蔽間內(nèi)，其內(nèi)放置有裝載了被測物體的順磁箱；磁性標(biāo)記固定在被測物體離順磁箱內(nèi)表面最近的部位，并沿著被測物體可能發(fā)生位移的方向磁化；第一測量系統(tǒng)用于記錄被測物體放置前后以及被測物體發(fā)生位移后的磁場變化；第二測量系統(tǒng)用于第一測量系統(tǒng)在記錄磁場變化的同時(shí)進(jìn)行相應(yīng)的一維坐標(biāo)標(biāo)定。本發(fā)明可對順磁金屬或非金屬箱內(nèi)物體的位移進(jìn)行無損檢測，擁有著較高的檢測深度和較低的誤差，并且對材料無損，對人體健康毫無任何危害，因此，其適于推廣應(yīng)用。

基于介電特性的礦物復(fù)合板材質(zhì)量快速檢測裝置 931     

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本實(shí)用新型提供了一種基于介電特性的礦物復(fù)合板材質(zhì)量快速檢測裝置，包括，控制平臺(tái)，用于擺放待測礦物復(fù)合板材；線圈傳感器，用于對待測礦物復(fù)合板材進(jìn)行電磁波輻射，并回收待測礦物復(fù)合板材的屬性信號(hào)；信號(hào)轉(zhuǎn)換器，與線圈傳感器連接；信號(hào)激勵(lì)器，與信號(hào)轉(zhuǎn)換器連接；信號(hào)調(diào)節(jié)控制模塊，與線圈傳感器連接；信號(hào)采集卡，與信號(hào)調(diào)節(jié)控制模塊連接；處理顯示平臺(tái)，分別與信號(hào)采集卡、信號(hào)激勵(lì)器連接,處理顯示平臺(tái)用于對接收信號(hào)進(jìn)行成圖顯示，獲得待測礦物復(fù)合板材的質(zhì)量圖形信息，本實(shí)用新型提供的裝置對板材進(jìn)行快速無損檢測，根據(jù)數(shù)據(jù)分析劃定質(zhì)量等級(jí)，有利于工廠實(shí)現(xiàn)生產(chǎn)線智能控制；在技術(shù)成本方面降低支出，提高了社會(huì)經(jīng)濟(jì)效益。

核島鋼襯里與貫穿件法蘭對接焊縫的射線檢測裝置 935     

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本發(fā)明公開了一種核島鋼襯里與貫穿件法蘭對接焊縫的射線檢測裝置，包括木板，木板上位于靠近襯里筒體的一端為插入端，插入端的下表面上連有限位裝置，限位裝置的端部凸出于貫穿件的外壁，木板上位于貫穿件外部的另一端為安裝端，安裝端上安裝有射線機(jī)，木板上設(shè)有固緊調(diào)節(jié)裝置，固緊調(diào)節(jié)裝置位于貫穿件遠(yuǎn)離襯里筒體的一端內(nèi)，固緊調(diào)節(jié)裝置能夠?qū)δ景暹M(jìn)行固定。本發(fā)明，采用此裝置后可以根據(jù)現(xiàn)場進(jìn)行臨時(shí)安裝射線檢測裝置，在任意位置進(jìn)行垂直透照，無需搭設(shè)新的腳手架；此裝置操作簡便，可拆卸重復(fù)使用，使用材料簡單，造價(jià)成本低；無損檢測人員在對焦射線機(jī)時(shí)操作性強(qiáng)，比先前用不斷的搭設(shè)腳手架要節(jié)省費(fèi)用，縮短了工期。

用于線圈法磁粉檢測的試件 1027     

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本實(shí)用新型屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種用于線圈法磁粉檢測的試件，包括金屬管件，金屬管件的外表面為檢測面，金屬管件的內(nèi)表面環(huán)向設(shè)有至少兩條寬度不等的檢測槽，檢測槽的底部到檢測面的距離沿著金屬管件的圓周方向連續(xù)變化。本實(shí)用新型所提供的試件能夠用于線圈法磁粉檢測近表面環(huán)向缺陷可檢深度，能夠用于優(yōu)化線圈法磁粉檢測工藝參數(shù)，提高鐵磁性材料縱長工件近表面環(huán)向缺陷檢測能力。

基于白光共焦傳感器的球殼類零件表面粗糙度檢測方法及系統(tǒng) 707     

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本發(fā)明公開了一種基于白光共焦傳感器的球殼類零件表面粗糙度檢測方法及系統(tǒng)，所述殼類零件表面粗糙度檢測方法至少包括如下步驟：S1：待測工件裝夾；S2：待測工件測量位置的確定；S3：調(diào)整工件的位姿；S4：調(diào)節(jié)測量傳感器與被測位置點(diǎn)間的距離；S5：測量參數(shù)設(shè)置；S6：采集被測面形貌數(shù)據(jù)；S7：計(jì)算被測位置的粗糙度參數(shù)并輸出結(jié)果；S8：測量下一個(gè)位置點(diǎn)，重復(fù)步驟S3至S7。本發(fā)明方法基于白光共焦傳感器針對精密位移的測量時(shí)具有高精度、高穩(wěn)定性、高分辨率、非接觸測量、測量范圍大等特點(diǎn)，實(shí)現(xiàn)球殼類工件任一型面表面粗糙度準(zhǔn)確、高效、無損的測量。

檢測或比較高分子聚合材料力學(xué)強(qiáng)度的方法 1009     

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本發(fā)明提供了一種檢測或比較高分子聚合材料力學(xué)強(qiáng)度的方法。所述檢測方法包括：測定多個(gè)樣品中的每個(gè)樣品的力學(xué)強(qiáng)度和熒光吸收光譜的最大值，形成熒光吸收光譜的最大值與力學(xué)強(qiáng)度的曲線關(guān)系或函數(shù)關(guān)系；測量待測目標(biāo)材料的熒光吸收光譜的最大值，利用所述曲線關(guān)系或函數(shù)關(guān)系對應(yīng)得出該待測目標(biāo)材料的力學(xué)強(qiáng)度。其中，所述多個(gè)樣品和待測目標(biāo)材料均由高分子聚合物構(gòu)成，所述高分子聚合物以二磺酸二氟二苯甲酮、羥基吲哚和二氟二苯甲酮為單體，且所述二磺酸二氟二苯甲酮的磺酸基上存在金屬陽離子。本發(fā)明能夠通過熒光無損探測的方式實(shí)現(xiàn)對高分子聚合材料力學(xué)性能的檢測。

用于光學(xué)元件表面熒光特性顆粒檢測的裝置及方法 765     

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本發(fā)明公開了一種用于光學(xué)元件表面熒光特性顆粒檢測的裝置及方法，包括：紫外熒光成像系統(tǒng)，其連接有控制電腦；運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)，紫外熒光成像系統(tǒng)設(shè)置在運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)上；將紫外熒光成像系統(tǒng)固定于運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)上，將光學(xué)元件放置于底座內(nèi)；通過運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)的支架調(diào)整紫外熒光成像系統(tǒng)與光學(xué)元件的距離，使其成像最清晰；控制電腦控制紫外熒光成像系統(tǒng)，使用CCD相機(jī)拍照并分析檢測結(jié)果；通過運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)的縱向?qū)к墶M向?qū)к壓拓Q直導(dǎo)軌移動(dòng)紫外熒光成像系統(tǒng)，并重復(fù)進(jìn)行拍照分析，完成對光學(xué)元件的抽樣檢測。本發(fā)明可根據(jù)成像鏡頭的工作距離，通過運(yùn)動(dòng)機(jī)構(gòu)調(diào)節(jié)紫外熒光成像系統(tǒng)與光學(xué)元件之間的距離。本發(fā)明檢測方法為無損檢測，與光學(xué)元件無接觸，無二次污染產(chǎn)生。

用于軸向通電法磁粉檢測的試件 787     

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本實(shí)用新型屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種用于軸向通電法磁粉檢測的試件，包括金屬管件，金屬管件的外表面為檢測面，金屬管件的內(nèi)表面沿其軸向設(shè)有至少兩條寬度不等的檢測槽，檢測槽與金屬管件等長，檢測槽的底部到檢測面的距離沿著金屬管件的軸向連續(xù)變化。本實(shí)用新型所提供的試件能夠用于優(yōu)化軸向通電法磁粉檢測工藝參數(shù)，提高鐵磁性實(shí)心和空心工件近表面縱向缺陷檢測能力。

可拆卸包裹爆炸物中子檢測裝置 874     

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本實(shí)用新型公開了一種中子檢測裝置，該檢測裝置包括中子發(fā)生器、α粒子位置靈敏探測器、中子源輻射屏蔽體、中子接收腔、γ射線探測器、系統(tǒng)控制及數(shù)據(jù)獲取與處理系統(tǒng)。本實(shí)用新型的可拆卸包裹爆炸物中子檢測裝置通過將γ探測器放置于中子源輻射屏蔽體與中子接收腔中間的中子出束孔道旁邊、緊靠被檢測物，大大提高了探測器效率；本裝置采用的可拆卸屏蔽體便于檢測裝置可以移動(dòng)、也便于在有人的地方使用，從而方便地實(shí)現(xiàn)了對隨機(jī)場所可疑行李、包裹的無損定性檢測，具有檢測效率高，此外該裝置還可對隱藏的毒品進(jìn)行檢測。

薄膜厚度微區(qū)成像的檢測裝置及方法 1197     

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本發(fā)明公開了一種薄膜厚度微區(qū)成像的檢測裝置及方法，屬于薄膜厚度無損檢測的技術(shù)領(lǐng)域，所述檢測裝置包括：計(jì)算機(jī)，分別與計(jì)算機(jī)通信連接的光源發(fā)生器和面陣檢測器；所述光源發(fā)生器用于產(chǎn)生波長可調(diào)的單色光；照明及成像光路，所述照明及成像光路用于將單色光垂直或接近垂直方向入射到樣品表面的待測區(qū)域，并將反射光收集并成像到面陣檢測器上；檢測過程包括：檢測過程包括：通過計(jì)算機(jī)控制光源發(fā)生器進(jìn)行波長掃描和面陣檢測器進(jìn)行逐個(gè)波長反射圖像的采集，并獲得不同波長的反射光圖像，通過數(shù)據(jù)處理方法將反射光圖像轉(zhuǎn)變?yōu)楸∧ず穸确植紙D像，以達(dá)到通過獲得成像范圍內(nèi)大量點(diǎn)的薄膜厚度，能應(yīng)用于分析厚度不均勻薄膜，預(yù)期在材料腐蝕、光學(xué)鍍膜、半導(dǎo)體工業(yè)等領(lǐng)域具有良好應(yīng)用前景的目的。

基于電容層析成像的高聚物粘結(jié)炸藥密度分布檢測方法 963     

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本發(fā)明公開了一種基于電容層析成像的高聚物粘結(jié)炸藥密度分布檢測方法，利用平行板電容法測得平行板間的電容值，計(jì)算得到不同密度下PBX材料的相對介電常數(shù)，建立PBX材料密度值與介電常數(shù)模型；搭建電容層析成像系統(tǒng)，依次測定待測PBX試件陣列電極對之間的電容值，根據(jù)測定的所有電極對之間的電容值以及靈敏度矩陣對PBX材料相對介電常數(shù)分布進(jìn)行三維重構(gòu)；根據(jù)PBX材料相對介電常數(shù)?PBX材料密度模型得到PBX試件密度分布，實(shí)現(xiàn)PBX試件密度分布的檢測；本發(fā)明方法能夠?qū)BX試件的密度分布進(jìn)行定量檢測，具有無損、高效、檢測范圍大/便攜的優(yōu)點(diǎn)，可廣泛應(yīng)用于PBX試件密度分布測定與密度均勻性的檢測中。

材料內(nèi)部缺陷的激光超聲透射時(shí)延檢測方法 968     

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本發(fā)明公開了一種材料內(nèi)部缺陷的激光超聲透射時(shí)延檢測方法。該方法包括如下步驟：首先，通過激光器激發(fā)的脈沖激光作用在樣品表面激發(fā)出超聲體波；其次，在樣品的另一側(cè)表面，利用探測激光聚焦在激發(fā)激光的對心位置處來探測超聲體波信號(hào)；再次，通過二維移動(dòng)樣品實(shí)現(xiàn)掃查，選取樣品無缺陷位置處信噪比較高的超聲體波作為參考波，對所有掃查點(diǎn)處探測得到的超聲波信號(hào)進(jìn)行互相關(guān)運(yùn)算；最后，通過計(jì)算超聲波信號(hào)波形相關(guān)系數(shù)和相關(guān)系數(shù)最大處的波形時(shí)延值來對內(nèi)部缺陷進(jìn)行檢測。本發(fā)明的激光超聲透射時(shí)延檢測方法對于內(nèi)部缺陷尤其是亞毫米微缺陷的檢測具有高靈敏度和高穩(wěn)定性，能夠?qū)崿F(xiàn)內(nèi)部缺陷的準(zhǔn)確定位和定量，適用于各類材料的無損檢測。

瓦片狀零件雙面同步視覺快速檢測設(shè)備 821     

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本實(shí)用新型公開了一種瓦片狀零件雙面同步視覺快速檢測設(shè)備，屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域中的視覺成像檢測設(shè)備，其目的在于提供一種瓦片狀零件的雙面同步視覺快速檢測設(shè)備，無需通過翻面裝置對零件進(jìn)行翻面處理即可直接對瓦片狀零件的凹面、凸面進(jìn)行快速視覺檢測。其技術(shù)方案為：圓盤上設(shè)置有機(jī)械手組件和上料、卸料組件；底板上劃分有上料區(qū)域、凹面檢測區(qū)域和凸面檢測區(qū)域；上料區(qū)域處設(shè)置有上料組件和抓料氣缸組件，凹面檢測區(qū)域處設(shè)置有凹面檢測組件，凹面檢測組件位于圓盤的下方，凸面檢測區(qū)域處設(shè)置有凸面檢測臺(tái)組件、卸料氣缸組件和凸面檢測組件，凸面檢測組件位于凸面檢測臺(tái)組件上方。本實(shí)用新型適用于檢測瓦片狀零件的雙面同步視覺檢測設(shè)備。

檢測微球與充氣管組件導(dǎo)通性的裝置 823     

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本申請涉及一種檢測微球與充氣管組件導(dǎo)通性的裝置，該裝置包括X射線能譜測量裝置、微球與充氣管組件充放氣裝置、數(shù)據(jù)采集與控制卡和計(jì)算機(jī)；本實(shí)用新型的一種檢測微球與充氣管組件導(dǎo)通性的裝置是將診斷氣體注入至微球與充氣管組件內(nèi)，通過X射線能譜測量裝置檢測微球內(nèi)診斷氣體的X射線特征譜線，通過X射線特征譜線判斷微球與充氣管組件的導(dǎo)通性。該裝置適用于微球與微細(xì)導(dǎo)氣管組件的導(dǎo)通性的檢測，對檢測樣品無損傷、無污染，檢測結(jié)果準(zhǔn)確、可靠。

集成式激光誘導(dǎo)聲表面波缺陷檢測裝置 902     

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本發(fā)明公開了一種集成式激光誘導(dǎo)聲表面波缺陷檢測裝置，屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，包括：探測頭、光纖束及探測器；所述探測頭一側(cè)端面的中心設(shè)有一個(gè)泵浦激光發(fā)射口，沿泵浦激光發(fā)射口周向均勻分布有探測激光口；探測頭的泵浦激光發(fā)射口通過光纖束中與之對應(yīng)的光纖與激光光源連接，探測頭的每個(gè)探測激光口通過光纖束中與之對應(yīng)的光纖分別與對應(yīng)的激光光源及對應(yīng)的探測器連接；所述泵浦激光發(fā)射口用于發(fā)射泵浦激光；所述探測激光口用于發(fā)射探測激光，并接收反射回來的探測激光傳輸給對應(yīng)的探測器；該裝置能夠利用激光產(chǎn)生聲表面波并采用激光探測的方式對被檢測物體進(jìn)行表面缺陷檢測,缺陷檢測效率高且操作方便。

用于中心導(dǎo)體法磁粉檢測的試件 1086     

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本實(shí)用新型屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種用于中心導(dǎo)體法磁粉檢測的試件，包括金屬管件，金屬管件的內(nèi)表面為檢測面，金屬管件的外表面沿其軸向設(shè)有至少兩條寬度不等的檢測槽，檢測槽與金屬管件等長，檢測槽的底部到檢測面的距離沿著金屬管件的軸向連續(xù)變化。本實(shí)用新型所提供的試件能夠用于中心導(dǎo)體法磁粉檢測內(nèi)壁近表面縱向缺陷的可檢深度，能夠用于優(yōu)化中心導(dǎo)體法磁粉檢測工藝參數(shù)，提高鐵磁性材料管子等空心件的內(nèi)壁近表面縱向缺陷檢測能力。

缺陷檢測設(shè)備及方法 723     

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本發(fā)明提供了一種缺陷檢測設(shè)備及方法，通過激光發(fā)射裝置發(fā)出探測光，并使探測光輻照到待測樣品上，形成信號(hào)光，然后通過分光裝置將信號(hào)光中包含的散射光和熒光進(jìn)行分離，使得熒光入射到第一探測裝置成像，散射光入射到第二探測裝置成像，進(jìn)而通過控制裝置處理第一探測裝置采集到的熒光圖像信息以及第二探測裝置采集到的散射光圖像信息，得到待測樣品的表面缺陷信息以及亞表面缺陷信息。通過本發(fā)明提供的技術(shù)方案能夠?qū)崿F(xiàn)對待測樣品的亞表面缺陷的無損檢測，而且能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)對待測樣品的表面缺陷的無損檢測，有利于節(jié)約缺陷檢測的測試時(shí)間，提高測試效率。

缺陷檢測設(shè)備 938     

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本實(shí)用新型提供了一種缺陷檢測設(shè)備，通過激光發(fā)射裝置發(fā)出探測光，并使探測光輻照到待測樣品上，形成信號(hào)光，然后通過分光裝置將信號(hào)光中包含的散射光和熒光進(jìn)行分離，使得熒光入射到第一探測裝置成像，散射光入射到第二探測裝置成像，得到熒光圖像信息以及散射光圖像信息，以便進(jìn)一步分析采集到的熒光圖像信息和散射光圖像信息，得到待測樣品的表面缺陷信息以及亞表面缺陷信息。通過本實(shí)用新型提供的缺陷檢測設(shè)備有利于實(shí)現(xiàn)對待測樣品的亞表面缺陷的無損檢測，而且能夠同時(shí)實(shí)現(xiàn)對待測樣品的表面缺陷的無損檢測，有利于節(jié)約缺陷檢測的測試時(shí)間，提高測試效率。

金屬零件缺陷檢測系統(tǒng) 764     

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本實(shí)用新型公開了一種金屬零件缺陷檢測系統(tǒng)，包括無損探測儀和測試架，所述無損探測儀通過導(dǎo)線連接有探頭，所述測試架包括底板，所述底板的上端面對稱設(shè)置有2個(gè)固定板，2個(gè)固定板之間設(shè)置有橫板，所述橫板的內(nèi)側(cè)設(shè)置有滑軌，所述滑軌內(nèi)設(shè)置有操作桿，所述操作桿的端部設(shè)置有探頭固定件，所述固定板上設(shè)置有與操作桿垂直連接的伸縮機(jī)構(gòu)，所述底板上設(shè)置有金屬零件固定機(jī)構(gòu)。本實(shí)用新型所述缺陷檢測系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)探頭在金屬零件表面自動(dòng)均勻滑動(dòng)，無需手動(dòng)滑動(dòng)，解決現(xiàn)有了無損檢測儀操作麻煩、影響到滑動(dòng)均勻性的問題。

密封性檢測裝置 824     

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本發(fā)明提供了一種密封性檢測裝置。本發(fā)明由檢測機(jī)構(gòu)和控制系統(tǒng)兩部分組成。本發(fā)明采用?“壓降法”檢測原理，將被檢測鐵匣置于可開啟的密封箱內(nèi)，然后關(guān)閉密封箱，對夾層空間抽真空，與鐵匣內(nèi)腔形成壓力差，通過測量規(guī)定時(shí)間內(nèi)夾層空間壓力變化值來衡量鐵匣密封性。通過增設(shè)與夾層空間近似體積的對比罐，將檢測過程分為兩個(gè)步驟，第一步讓對比罐與夾層空間形成壓力平衡，用平衡后的壓力值來判斷是否存在大流量泄漏情況，第二步再用“壓降法”檢測小漏情況。本發(fā)明提供的密封性檢測裝置用在槍彈自動(dòng)包裝生產(chǎn)線上，可實(shí)現(xiàn)鐵匣密封性在線無損檢測，通過更換模具可實(shí)現(xiàn)國標(biāo)鐵匣和美標(biāo)鐵匣的密封性檢測。

金屬零件缺陷檢測系統(tǒng)及修復(fù)方法 707     

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本發(fā)明公開了一種金屬零件缺陷檢測系統(tǒng)及修復(fù)方法，所述金屬零件缺陷檢測系統(tǒng)包括無損探測儀和測試架，所述無損探測儀通過導(dǎo)線連接有探頭，所述測試架包括底板，所述底板的上端面對稱設(shè)置有2個(gè)固定板，2個(gè)固定板之間設(shè)置有橫板，所述橫板的內(nèi)側(cè)設(shè)置有滑軌，所述滑軌內(nèi)設(shè)置有操作桿，所述操作桿的端部設(shè)置有探頭固定件，所述固定板上設(shè)置有與操作桿垂直連接的伸縮機(jī)構(gòu)，所述底板上設(shè)置有金屬零件固定機(jī)構(gòu)。本發(fā)明所述缺陷檢測系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)探頭在金屬零件表面自動(dòng)均勻滑動(dòng)，無需手動(dòng)滑動(dòng)，解決現(xiàn)有了無損檢測儀操作麻煩、影響到滑動(dòng)均勻性的問題。

液壓加載試驗(yàn)機(jī)的材料水平斷裂檢測與安全處理控制方法 1144     

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本發(fā)明公開了液壓加載試驗(yàn)機(jī)的材料水平斷裂檢測方法，包括材料水平斷裂檢測方法與材料斷裂檢測算法。本發(fā)明還公開了一種液壓加載試驗(yàn)機(jī)的材料水平斷裂安全處理控制方法，包括材料斷裂安全處理措施與安全處理控制方法。通過本發(fā)明，解決了材料試驗(yàn)機(jī)試驗(yàn)中材料斷裂后對材料進(jìn)行二次加載造成損傷、以及材料二次加載過程造成爆炸事故、過程不可控等問題，滿足實(shí)驗(yàn)室或者工業(yè)科研生產(chǎn)對材料負(fù)荷強(qiáng)度測量、特別是危險(xiǎn)材料的負(fù)荷強(qiáng)度安全、可控、材料無損傷測量需求。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了含能材料負(fù)荷強(qiáng)度測量功能，滿足了含能材料負(fù)荷強(qiáng)度測量過程中安全、可控、對材料無二次損傷要求。

用于線圈法磁粉檢測的試件以及該試件的檢測方法 798     

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本發(fā)明屬于無損檢測技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種用于線圈法磁粉檢測的試件以及該試件的檢測方法。檢測方法，包括以下步驟：將試件固定在磁探檢測臺(tái)兩個(gè)夾頭之間，使試件位于線圈的中心位置并保持水平；對線圈通電形成磁場并對試件施加磁粉或磁懸液獲得磁痕；記錄磁化電流大小和磁痕的長度；依據(jù)公式計(jì)算出磁粉檢測深度。本發(fā)明所提供的試件能夠用于線圈法磁粉檢測近表面環(huán)向缺陷可檢深度，該試件的檢測方法，能夠用于檢測鐵磁性材料縱長工件近表面環(huán)向缺陷可檢深度的工藝靈敏度、分辨率、可靠性驗(yàn)證，優(yōu)化線圈法磁粉檢測工藝參數(shù)，提高該類型工件近表面環(huán)向缺陷檢測能力。