本發(fā)明屬于
復(fù)合材料缺陷檢測技術(shù)領(lǐng)域,具體涉及一種基于陣列阻抗特性的復(fù)合材料缺陷檢測系統(tǒng)。本發(fā)明主要解決了現(xiàn)有復(fù)合材料缺陷的檢測方法存在檢測成本高、定位精度不高、干擾噪聲影響嚴(yán)重等技術(shù)問題。本發(fā)明采用的技術(shù)方案為:一種基于陣列阻抗特性的復(fù)合材料缺陷檢測系統(tǒng),包括柔性激振模塊、檢振模塊、系統(tǒng)控制模塊、數(shù)據(jù)處理模塊和結(jié)果顯示模塊。本發(fā)明具有檢測速度快、定位精度高、提高了檢測效率和降低了測試復(fù)雜度的優(yōu)點(diǎn)。
聲明:
“基于陣列阻抗特性的復(fù)合材料缺陷檢測系統(tǒng)” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)