本發(fā)明公開一種薄層碳酸鹽巖儲層水平井的靶點(diǎn)調(diào)整方法包括以鉆井資料為依托,小層對比為基礎(chǔ),結(jié)合地震橫向預(yù)測成果,追蹤井間標(biāo)志層起伏,描述各標(biāo)志層小幅度構(gòu)造形態(tài),建立小幅度構(gòu)造精細(xì)地質(zhì)模型,為水平井入靶做好準(zhǔn)備;根據(jù)儲層沉積特征與巖性變化特點(diǎn),確定靶點(diǎn)調(diào)整時機(jī)、選取合適參考標(biāo)志層,根據(jù)實鉆標(biāo)志層海拔值,對初始水平井靶點(diǎn)進(jìn)行調(diào)整;建立水平井入靶地層對比方法,根據(jù)地層對比結(jié)果,可進(jìn)一步細(xì)化所述標(biāo)志層小幅度構(gòu)造形態(tài),進(jìn)一步修正靶點(diǎn)。本發(fā)明利用常規(guī)地質(zhì)導(dǎo)向技術(shù)手段,實現(xiàn)了薄層碳酸鹽巖儲層的精確入靶,保障了水平井開發(fā)效果。
聲明:
“薄層碳酸鹽巖儲層水平井的靶點(diǎn)調(diào)整方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)