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光學干涉譜域相位對照B掃描儀及其測量方法

1093   編輯:管理員   來源:中冶有色技術網(wǎng)  
2023-03-18 16:52:15
本發(fā)明公開了一種光學干涉譜域相位對照B掃描儀及其測量方法,主要用于透視測量復合材料構(gòu)件內(nèi)部的離面位移分布。該掃描儀基于光學干涉原理,利用寬帶光源的空間調(diào)制,在CCD相機的像平面上,將被測復合材料構(gòu)件內(nèi)部切面的干涉光譜展開,從光譜的相頻特性中計算出復合材料構(gòu)件內(nèi)部切面的離面位移分布。該掃描儀可以對透明和光學渾濁復合材料構(gòu)件進行透視測量,特點是軸向輪廓和離面位移的測量分辨率高,測量速度快,適用于復合材料構(gòu)件力學特性研究及其微小缺陷檢測辨識。
聲明:
“光學干涉譜域相位對照B掃描儀及其測量方法” 該技術專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)
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