本發(fā)明公開了一種基于原子力顯微鏡探針的拉伸測(cè)試方法，方法包括：將原子力顯微鏡探針固定于Z軸移動(dòng)平臺(tái)的頂端，并將纖維增強(qiáng)復(fù)合材料放置在樣品放置區(qū)，將硅晶片固定于樣品放置區(qū)的一側(cè)；將原子力顯微鏡探針與纖維增強(qiáng)復(fù)合材料接觸后通過(guò)電子束照射粘接后，再移動(dòng)X軸移動(dòng)平臺(tái)及Y軸移動(dòng)平臺(tái)將單根材料拔出；將單根材料與硅晶片觸接后通過(guò)電子束照射粘接后，再啟動(dòng)電子顯微鏡的錄像，并移動(dòng)X軸移動(dòng)平臺(tái)及Y軸移動(dòng)平臺(tái)將單根材料拔斷；根據(jù)錄像中的多幀連續(xù)圖像獲取單根材料被拔斷時(shí)原子力顯微鏡探針的位移及其彈性系數(shù)，得到單根材料的力學(xué)性能、及應(yīng)力?應(yīng)變曲線。本發(fā)明實(shí)現(xiàn)了對(duì)材料的拉伸測(cè)試，又可以同時(shí)對(duì)其力學(xué)等性能進(jìn)行測(cè)試。