本發(fā)明公開(kāi)了一種基于偏微分方程的納米顆粒尺寸測(cè)量方法,包括:1)輸入一幅納米顆粒圖像I,將平均曲率流模型和PM模型的濾波結(jié)果進(jìn)行像素級(jí)相乘得到濾波后的圖像u;2)采用局部區(qū)域擬合模型(RSF)對(duì)圖像u進(jìn)行分割;3)像素標(biāo)定獲得圖像中每個(gè)像素對(duì)應(yīng)的實(shí)際尺寸;4)利用目標(biāo)的凸性Cconv選出不粘連的顆粒;5)通過(guò)對(duì)顆粒邊界進(jìn)行最小二乘圓擬合獲得球狀納米顆粒直徑,同時(shí)得到內(nèi)切圓直徑rc,外切圓直徑ri,以及納米顆粒的球狀性本發(fā)明可以廣泛地用于催化科學(xué)、醫(yī)學(xué)藥物、
新材料、電力工業(yè)和
復(fù)合材料等需要納米顆粒尺寸測(cè)量技術(shù)的高科技領(lǐng)域。
聲明:
“基于偏微分方程的納米顆粒尺寸測(cè)量方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)