本發(fā)明涉及用于介電性能測(cè)試的氮化硅纖維試樣、制樣方法及測(cè)試方法,屬于
復(fù)合材料技術(shù)領(lǐng)域。所述試樣由氮化硅短纖維搭接形成,且搭接的所述氮化硅短纖維通過(guò)氧化硅粘接,所述氧化硅的質(zhì)量為所述短纖維的1%~5%,所述氮化硅短纖維表面無(wú)上漿劑、長(zhǎng)度≤0.5mm。本發(fā)明解決了氮化硅纖維不滿足測(cè)試形狀尺寸要求的難題,而且采用該方法制備的試樣可以測(cè)試各個(gè)波段的高溫介電性能,溫度范圍擴(kuò)展至室溫~1400℃。
聲明:
“用于介電性能測(cè)試的氮化硅纖維試樣、制樣方法及測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)