本實(shí)用新型公開了一種礦機(jī)ASIC測試探針卡,包括與待測器件對接的探針和至少一個(gè)礦機(jī)ASIC測試模塊,各個(gè)礦機(jī)ASIC測試模塊直接安裝于接口電路板,各個(gè)礦機(jī)ASIC測試模塊同時(shí)與探針相連。所述礦機(jī)ASIC測試模塊包括第一至第三開關(guān)K1~K3和測量電路,所述第一開關(guān)K1用于導(dǎo)通或者關(guān)斷電源通道模塊和待測器件之間的通路,所述第二開關(guān)K2用于導(dǎo)通或者關(guān)斷信號發(fā)生模塊與待測器件之間的通路。本實(shí)用新型公開的礦機(jī)ASIC測試探針卡,基于測試廠現(xiàn)有測試機(jī)電源儀表與信號發(fā)生及分析儀表,并加入高精度的礦機(jī)ASIC測試模塊,以便實(shí)現(xiàn)礦機(jī)ASIC高運(yùn)算
芯片多工位并行測試。
聲明:
“礦機(jī)ASIC測試探針卡” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)