本申請屬于地質(zhì)探測技術領域,具體涉及一種探地雷達數(shù)據(jù)的反演方法和裝置。探地雷達數(shù)據(jù)的反演方法包括:獲取探地雷達采用剖面法對待測區(qū)域進行探測掃描得到的實際測量數(shù)據(jù);對實際測量數(shù)據(jù)進行數(shù)據(jù)預處理,得到待反演數(shù)據(jù);從待反演數(shù)據(jù)中提取各個反射界面的反射波振幅和反射波的雙程旅行時;將偏移距離、入射波振幅、預先確定的電磁波在第一層介質(zhì)中的傳播速度、各反射界面的反射波振幅和反射波的雙程旅行時作為輸入數(shù)據(jù),迭代計算各層的厚度和反射波傳播速度;基于各層的速度得到各層介質(zhì)的相對介電常數(shù)。通過本申請的方法能夠快速地采集探地雷達數(shù)據(jù)并實現(xiàn)準確、高效地探地雷達數(shù)據(jù)反演。
聲明:
“探地雷達數(shù)據(jù)的反演方法和裝置” 該技術專利(論文)所有權利歸屬于技術(論文)所有人。僅供學習研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)