本發(fā)明公開了一種用于提取地球物理磁異常場邊界的磁場刻痕分析方法,利用磁場與重力場之間的解析關(guān)系即泊松方程,推導(dǎo)出磁場表面二階譜矩的三個分量,獲得磁場表面刻痕分析的結(jié)果參數(shù)。該方法包括四個步驟:一是磁場分量轉(zhuǎn)換;二是總磁場的模量異常ΔT總水平分量模表面局部面元二階譜矩;三是總磁場的模量異常ΔT總水平分量模表面局部面元統(tǒng)計不變量;四是磁場表面提取的邊界系數(shù)四個步驟。本發(fā)明的有益效果是:利用磁場刻痕分析方法對磁場進(jìn)行邊界提取,保留了重力場刻痕分析對弱邊界具有更強的增強能力、分辨能力和噪音壓制能力的同時,消除了由于伴生異常引起的虛假邊界,可為地質(zhì)構(gòu)造的解釋提供更有效的參考信息。
聲明:
“用于提取地球物理磁異常場邊界的磁場刻痕分析方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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