本發(fā)明涉及集成光學(xué)器件的性能測(cè)試領(lǐng)域,具體指的是一種基于FPGA的快速測(cè)試鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器的半波電壓測(cè)試方法。該方法用四態(tài)調(diào)制方式來(lái)快速跟蹤鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器半波電壓的變化,可以測(cè)試鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器在整個(gè)溫度變化范圍內(nèi)的半波電壓值并記錄相對(duì)應(yīng)的溫度變化曲線,其優(yōu)點(diǎn)是:瞬間內(nèi)找到精確的半波電壓值,其精度達(dá)到10-3以上,并能實(shí)時(shí)記錄溫度變化曲線與之對(duì)應(yīng)。
聲明:
“鈮酸鋰光學(xué)調(diào)制器的半波電壓快速測(cè)試方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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