本發(fā)明公開了一種基于γ總量及高密度電法測(cè)量下的偉晶巖鋰礦的圈定方法,其包采集每個(gè)斷面上γ照射量率及斷面不同深度處的視電阻率和視極化率;標(biāo)記視電阻率、視極化率和γ照射量率中的異常測(cè)量點(diǎn);將視電阻率和視極化率輸入反演軟件得到視電阻率斷面圖和視極化率斷面圖;采用Mapgis軟件生成γ總量測(cè)量的平面剖面圖;將格式轉(zhuǎn)換后的視電阻率斷面圖和視極化率斷面圖及平面剖面圖輸入Mapgis軟件生成剖面綜合圖;采用異常測(cè)量點(diǎn)在剖面綜合圖上分別圈出第一賦存區(qū)和第二賦存區(qū);將重合的第一賦存區(qū)和第二賦存區(qū)標(biāo)記為偉晶巖脈鋰礦富存區(qū),將余下的第一賦存區(qū)和第二賦存區(qū)標(biāo)記為偉晶巖脈鋰礦疑似區(qū)。
聲明:
“基于γ總量及高密度電法測(cè)量下的偉晶巖鋰礦的圈定方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)