本實(shí)用新型屬于一種多節(jié)鋰電檢測電路,MCU處理器的PA0腳通過電阻R10連接MOS管Q2、Q4、Q6的柵極,MCU處理器的PA1腳通過電阻R11連接MOS管Q3、Q5、Q7的柵極,MOS管Q2?Q7的漏極分別連接電阻電阻R4?R9,MOS管Q2、Q3的源極均連接電容C6、R12相并聯(lián)的電路一端,MOS管Q4、Q5的源極均連接電容C7、R13相并聯(lián)的電路一端,MOS管Q6、Q7的源極均連接電容C8、R14相并聯(lián)的電路一端。本實(shí)用新型通過對采樣電池電壓點(diǎn)進(jìn)行分組,根據(jù)電容充電電路的不同充電時間來區(qū)分每組電池電壓采樣點(diǎn),實(shí)現(xiàn)MCU少數(shù)采樣點(diǎn)就可以實(shí)現(xiàn)多數(shù)電池電壓采樣的目的。
聲明:
“多節(jié)鋰電檢測電路” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)