本發(fā)明公開了一種DCIR測(cè)試值的校準(zhǔn)方法,包括:獲取待測(cè)量鋰離子電芯的DCIR測(cè)試值;獲取鋰離子電芯的溫度值,并設(shè)定溫度基準(zhǔn)值;根據(jù)DCIR測(cè)試值、電芯的溫度值和溫度基準(zhǔn)值,獲取校準(zhǔn)后的DCIR測(cè)試值。本發(fā)明提供一種DCIR測(cè)試值的校準(zhǔn)方法,結(jié)合DCIR測(cè)試值與環(huán)境溫度值和鋰離子電芯的溫度值T1之間的關(guān)系,對(duì)DCIR測(cè)試值進(jìn)行校準(zhǔn),避免了因鋰離子電芯的放置以及環(huán)境溫度值所產(chǎn)生的漂移,得到了校準(zhǔn)后的DCIR測(cè)試值。本發(fā)明能夠獲取準(zhǔn)確的DCIR測(cè)試值,降低了對(duì)測(cè)試環(huán)境的要求,使測(cè)試更加方便。
聲明:
“DCIR測(cè)試值的校準(zhǔn)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
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