本申請(qǐng)關(guān)于一種用于電池管理系統(tǒng)的微控制單元
芯片及芯片異常檢測(cè)方法,涉及鋰離子二次電池管理系統(tǒng)領(lǐng)域,該MCU芯片包括:數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊、信號(hào)傳輸模塊和總線;數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊與信號(hào)傳輸模塊通過(guò)總線通信連接;數(shù)據(jù)存儲(chǔ)模塊中包括程序存儲(chǔ)器、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)器、CPU和監(jiān)視時(shí)鐘。本芯片結(jié)構(gòu)實(shí)現(xiàn)在MCU芯片內(nèi)部出現(xiàn)故障時(shí),對(duì)于電池執(zhí)行的相應(yīng)控制。通過(guò)上述設(shè)置,可以將MCU芯片與AFE模塊的功能集成于單個(gè)芯片當(dāng)中,減少功能模塊占用的空間,降低分離購(gòu)買(mǎi)模塊化芯片所使用的成本以及產(chǎn)品上的空間成本。
聲明:
“用于電池管理系統(tǒng)的微控制單元芯片及芯片異常檢測(cè)方法” 該技術(shù)專利(論文)所有權(quán)利歸屬于技術(shù)(論文)所有人。僅供學(xué)習(xí)研究,如用于商業(yè)用途,請(qǐng)聯(lián)系該技術(shù)所有人。
我是此專利(論文)的發(fā)明人(作者)